的SENresearch 4.0光谱椭偏仪覆盖最广的光谱范围;在190 nm代表深紫外和3500 nm代表近红外(NIR)之间。高光谱分辨率使用户能够分析厚度高达200µm的薄膜。
数据采集过程中没有移动光学部件，以获得良好的测量结果。步进扫描分析仪(SSA)原理是SENresearch 4.0光谱椭偏仪的一个显著特征。SSA原理的扩展版本采用了创新的2C设计，能够测量完整的Mueller矩阵。2C设计是一种具有成本效益和现场可升级的配件。
SpectraRay/4是一个具有全面功能的软件包，用于复杂的材料分析。SpectraRay/4包括用于常规应用程序的配方模式和用于研究的交互式模式以及指导图形用户界面。
SENTECH SENresearch 4.0是最新的光谱椭偏仪，每个单独的椭偏仪都配置有客户指定的光谱范围。
SENresearch 4.0利用快速FTIR椭圆偏振法对近红外范围分别达到2500 nm或3500 nm。它提供最宽的光谱范围，优良的信噪比和优越的，可选择的光谱分辨率。FTIR椭偏仪的测量速度可以与二极管阵列结构相比较，也可以选择到1700 nm。
新的电动金字塔角测量仪的角度范围在20°和100°之间。光学编码器保证延长稳定性和最大精度的角度设置。分光椭偏仪的臂可以自由移动，以获得角度分辨透射和散射测量。
SENresearch 4.0采用了SSA原理。这将强度测量从机械运动中分离出来，从而允许对粗糙样品进行分析。数据采集过程中无运动部件，以确保最佳测量结果。除此之外，SENresearch 4.0还包括一个用于现场和测绘应用的快速测量模式。
关键特性
- 可以根据客户的规格定做吗
- 可以配置为标准和高级应用程序
- 对于各种各样的应用程序，提供了预定义的食谱
应用程序
- 光学各向异性样品
- 介电层堆栈
- 结构三维各向异性样品
- 纹理的表面