Polytec的TMS-500-R TopMap Pro.surf +是最新的家庭成员，它方便地确定粗糙度和同时偏差。系统快速可靠，精确，它是从高端TopMap Pro：Surf的升级。
具有集成粗糙度传感器的新数据采集概念有助于提供一体化解决方案。当TMS-500-R TOPMAP PRO.SURF +由于其快速数据采集概念和高水平的可重复性，是在等地，在等等的地方进行精密和快速测量的精密制造表面，如靠近生产，靠近生产或生产线。
TopMap Pro.surf +提供量身定制的解决方案，以便使用诸如台阶高度，平坦度和平行度加上粗糙度等参数的几乎所有表面。除了智能多传感器概念之外，高垂直和横向分辨率，其远心光学设计和快速测量令人印象深刻。
在几秒钟内，在大43×32mm²的测量表面上记录了两百万的测量点，而无需缝合。表面测量可以延伸至230×220mm²。由于70毫米垂直测量范围和优越的垂直分辨率，有很多余地可实现灵活的测量任务。诸如钻孔的难以达到的区域也可以通过远心理光学来测量。
随着许多样品的同时捕获，无需机械固定，诸如自动模式识别的集成机器视觉工具有助于加快质量保证过程。
主要特点
TMS-500-R TOPMAP PRO.SURF +的主要功能如下：
- 过滤轮和智能扫描技术几乎可以测量任何表面
- 精确快速的3D表面表征加粗糙度测量
- 可追踪的测量结果和非接触式测量原理
- 230 x 220的大型测量场，高Z范围为70mm³
- 自动样品识别无需任何机械夹具要求
- 用于自动化的用户友好的评估和测量软件
- 远心理光学措施甚至低洼，难以达到的区域，如孔
- 一体化系统并不忽略任何细节
- 由于工作距离长，安全样品处理
表格参数的综合测量加上表面粗糙度|topmap pro.surf +