B&W Tek的Sol™1.7是一款高性能线性InGaAs阵列光谱仪,包括512像素,TE冷却至−5°C。该系统还提供了高吞吐量和巨大的动态范围。
该光谱仪配备了集成的16位数字化仪和SMA 905光纤输入。它还兼容USB 2.0即插即用。多亏了B&W Tek的光谱采集软件,用户可以在他们预先配置的光谱范围内选择高动态和高灵敏度范围模式。该仪器具有量身定制的光谱分辨率和应用支持。
应用程序
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质量控制
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过程监控
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在线分析仪
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近红外光谱
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材料标识
特性
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光谱范围在900到1700纳米之间
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自带内置16位数字转换器
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两种增益模式,以满足特定的应用需求
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分辨率可达0.35 nm
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热电冷却至−20°C
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256和1024像素配置可用
配件
热电冷却器
采用内置的热电冷器(TEC)对阵列探测器进行冷却是降低暗电流和噪声、提高探测限和动态范围的有效方法。
通过TEC将InGaAs阵列探测器从环境温度25°C降至−10°C,暗噪声降低了3.5倍,暗电流降低了12.25倍。这使得光谱仪能够探测到较弱的光学信号,并在较长的曝光时间内发挥作用。
规范
表1。来源:黑与白Tek
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直流电源输入 |
5 V DC @ 3.5安培 |
AC适配器的输入 |
100 - 240 VAC 50/60 Hz, 0.5 A @ 120 VAC |
探测器类型 |
线性InGaAs数组 |
像素 |
512 x 1 @ 25µm x 500µm每个元素 |
摄谱仪f / # |
3.5 |
摄谱仪光学布局 |
交叉Czerny-Turner |
动态范围 |
高动态范围模式:100000:1 高灵敏度模式:6,250:1 |
数字转换器的分辨率 |
16位或65535:1 |
读出速度 |
500千赫 |
数据传输速度 |
>200频谱每秒通过USB 2.0 |
积分时间 |
200µs到>= 64秒 |
外部触发 |
辅助港口 |
工作温度 |
0°c - 35°c |
TE冷却 |
-5°C @相对湿度= 90%(-20°C可选) |
重量 |
~ 3.1磅(1.4公斤) |
维 |
尺寸(宽×宽×高) |
计算机接口 |
Usb 2.0 / 1.1 |
操作系统 |
Windows: 7、8、8.1(32位和64位) |
入射狭缝
表2。来源:黑与白Tek
狭缝 选项 |
维 |
近似解析 900年-1700海里 |
25µm |
25µm宽,1mm高 |
~ 4.0海里 |
50µm |
50µm宽,1毫米高 |
~ 5.0海里 |
100µm |
100µm宽,1mm高 |
~ 8.4海里 |
可定制狭缝宽度 |
衍射光栅
表3。来源:黑与白Tek
光谱 覆盖(nm) |
光栅 |
近似解析 25µm狭缝 |
1500 - 1600 |
1000/1310 |
0.35纳米 |
1260 - 1355 |
1000/1310 |
0.4纳米 |
1450 - 1650 |
600/1200 |
0.8纳米 |
1200 - 1400 |
600/1200 |
0.7纳米 |
900 - 1300 |
300/1200 |
1.5纳米 |
1200 - 1600 |
300/1200 |
1.5纳米 |
900 - 1700 |
150/1250 |
4.0纳米 |
自定义配置可用 |
软件
BWSpec®从B&W Tek是一个光谱数据采集软件,具有广泛的工具,已开发执行复杂的计算和测量,只需点击一个按钮。
它使用户能够在多种数据格式之间进行选择,并能够设置优化的扫描参数,如集成时间。除了强大的数据处理和数据采集,它还提供其他功能,如手动/自动基线校正,光谱平滑和自动消除黑暗。
图片来源:B&W Tek
摄谱仪
图片来源:B&W Tek