这示例®加上LS.是一种高性能智能光谱仪,可使用像差校正凹形全息光栅最小化杂散。整个190-1100nm光谱范围内的卓越数据质量由长焦距传递,与高量子效率检测器相结合。
示例性Plus LS具有内置快门,即使在照明的情况下也能为暗扫描测量实现暗扫描测量,并且还具有高信噪比,使其成为低光级应用的理想选择。作为示例产品线的成员,示例®加上数据处理和USB 3.0通信的LS功能。该产品系列还针对多通道操作进行了优化,具有超低触发延迟和门抖动。
标准光谱配置范围为180nm - 1050nm,分辨率范围在0.6nm和6.0nm之间。自定义配置可用于OEM应用程序。
应用程序
示例的关键应用®加上LS如下:
- LED表征
- 天然气分析
- 生物医学光谱
- 在线过程监控
- 拉曼和荧光光谱
- LCD显示测量
- 低光水平UV至NIR光谱
特征
聪明的
板载加工,包括平均,平滑和黑暗补偿
速度
在6.3 ms的集成时间下,每秒收购并转移超过140个光谱
同步
最多支持32个具有超低触发延迟(95ns)和门抖动的设备(+/- 20 ns)
信噪比
板载平均1 |
〜540 |
板载平均10 |
〜1900 |
板载平均100 |
〜4800 |
附加的功能
示例的一些附加功能®加上LS如下:
- 极低的杂散光
- 内置快门
- 2048探测器元素
- 超过60%的QE,200nm
- 高紫外线,VIS和NIR反应
- 可配置的冷却温度(0°默认)
规格
电源输入 |
5 V DC @ 3.0 A(启动时最大值) |
探测器类型 |
背部变薄CCD阵列 |
波长范围 |
190 nm - 1100 nm |
探测器像素格式 |
2048有效探测器元素 |
有效的像素大小 |
14μmx〜0.9 mm |
光谱仪F /# |
3.0 |
光谱仪光学布局 |
凹形全息,畸变矫正,平面 |
动态范围 |
50,000(典型) |
数字化器分辨率 |
16位或65,5535:1 |
数据传输速度 |
>每秒140个频谱在突发模式下的集成时间为6.3ms |
触发延迟 |
95 ns +/- 20 ns(调用时序图) |
读数速度 |
> 400 kHz. |
集成时间 |
6.3 ms,可调节1μs增量 |
奥克斯港口 |
外部触发,4个数字输出(2带快门控制),2数字输入,模拟输入,模拟输出和系统复位 |
工作温度 |
5°C - 35°C |
操作相对湿度 |
85%的非杯子 |
CCD冷却 |
默认值:0°C在25°C的环境下。 |
重量 |
2.6磅 |
方面 |
7.0在x 4.25 in x 2.68 in(178 mm x 108 mm x 67 mm) |
电脑界面 |
USB 3.0 / 2.0 |
操作系统 |
Windows:7,8(32位&64位) |
技术细节
光谱仪
入口狭缝
缝隙选项 |
方面 |
约。分辨率350-750 nm. |
10μm |
10μm宽x 2 mm高 |
〜2.0 nm. |
25μm. |
25μm宽x 2 mm高 |
〜2.5nm. |
50微米 |
50μm宽x 2 mm高 |
〜3.2 nm. |
100μm |
100μm宽x 2 mm高 |
〜6.0 nm. |
可用的自定义配置 |
衍射光栅
最佳效率 |
光谱覆盖(NM) |
UV / vis. |
180 - 450. |
uv-nir. |
190 - 800 |
uv-nir. |
400 - 800. |
uv-nir. |
190 - 1100 |
uv-nir. |
350 - 1050 |
可用的自定义配置 |
来自B&W TEK的示例性加上LS模块化光谱仪