的Hiden MAXIM四重SIMS分析仪是一个用于动态和静态SNMS和SIMS应用的系统。该分析仪是一种先进的二次离子质谱仪，用于负和正，动态，静态和中性分析应用。
30°接受角度使MAXIM的轴线平行于样品平面安装，为其他离子或光学留下一个清晰的采样区域。MAXIM对样品充电的容错使其成为分析绝缘子的理想探针。此外，大的接受角度允许广域成像。
特性
Hiden MAXIM四重SIMS分析仪的主要功能如下:
- 电杆直径:9毫米
- 退火:250°C
- 质量过滤:三重过滤
- 离子能量过滤器:30°角接受
- 质量范围选项:300 amu, 500 amu或1000 amu
- 电离器:电子轰击，用于SNMS和RGA的单丝
- 检测器:离子计数检测器，107cps，正负离子检测