这邻居模式平均和重新填充（NPAR™）测量电子背散射衍射（EBSD）图案中的晶体取向。由于高水平的噪声，EBSD图案的频带检测和索引性能通常是不准确的，这导致数据的低信噪比（SNR）。尽管可以通过减少探测器增益来抑制噪声水平或通过平均多个帧一起来解决这些问题，但仍然存在限制。例如，这两种方法都显着延长了获得模式收集和定向映射所需的时间。
eDAX的NPAR™在被重新输入之前，在映射网格上使用其他相邻模式平均EBSD模式。该方法保留降低噪声的益处，因此更高的图像SNR，而不会屈服于更长的模式收集和定向映射时间的缺点。
最终，埃德克斯的索引和频带检测技术使得EBSD检测器能够在非常高的增益水平下测量晶体取向，因此具有大量噪声，而不会影响索引性能。
功能亮点
- 模式中的高SNR增强了索引性能
- EBSD探测器可以在比传统检测器更高的增益/噪声水平工作
- 没有时间惩罚 - 非常快速的模式收集和定向映射
- 即使在较低光束电流和电压下也快速采集速度
- 适用于光束敏感和非导电的样品
- 适用于各种原位和3D研究实验