Phenom桌面扫描电镜与粒子测量软件允许顺利生成和分析扫描电镜图像。
一体化粒子测量软件允许用户为许多亚微米粒子应用程序收集形态学和粒径数据。完全自动化的颗粒测量允许比光学显微镜更深入的视觉探索，从而在粉末设计、开发和质量控制方面产生新的发现和创新。
Phenom粒子分析解决方案允许用户在需要时获取所需数据。从而加快了颗粒分析速度，提高了产品质量。
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主要规格
- ProSuite内置软件，用于在线和离线分析
- 使用免费的自动图像映射生成图像数据集
- 关联粒子特征，如圆度、纵横比、直径和凸度
- 具有非专家用户默认设置和专家高级设置的高级检测算法