Hitachi High-Tech的FT160是专为下一代小型化电子设计的最先进的微门和超薄涂层分析仪。
FT160 XRF分析仪可帮助用户在微连接器，PCB和半导体晶片上保持精确且一致的涂层，使得即使是具有可靠性和准确性的最小特征也是如此。
为分析MicroSpot和超薄涂层，FT160的光学和探测器技术为最小的特征而增强。
用户可以使用FT160进行更多
高强度X射线：一种新的多百葡萄球光学系统是仪器的中心部件，具有30μm的光束，适用于超小部件和微小半导体图案。
高灵敏度SDD检测器：这种高性能单位使计数率加倍，从而提高了生产率。
高清摄像头：更好地分辨出观察相机 - 具有16倍数码变焦 - 使PCB和半导体表面易于导航和易于查看。
智能控制器软件：可以将FT160编程为基于图案和形状自动识别测量位置，从而提高精度和吞吐量。
精确分析
定位阶段和多谱X射线光学器件的精度允许用户测量测量<50μm的特征上的纳米级涂层。
速度
在FT160内配备的新型高强度多百常视镜和增强型SDD检测器使得与传统设备相比，仪器的吞吐量增加了一倍。
多功能性
通过大型门易于装载和移除零件，大型样品台容纳具有广泛尺寸和形状的组件。
耐久性
坚固的底盘已经在复杂的生产或实验室设置中设计并测试了耐用性。
当今电子制造商的理想分析仪
FT160的鲁棒特性使其成为实验室的优选仪器，其中具有繁重的工作量，可以是维持工作流程的多功能性，准确性和效率。
FT160提供：
- 测量<50μm的特征
- 快速的结果和易用性，以确保高吞吐量
- 允许查看测试的大型样本观察窗口
- 用于快速样品布置的大门和舞台
- 多毛细管光学和高灵敏度的SDD检测器，可实现优异的精度