MicroSpot XRF分析仪 - FT160

Hitachi High-Tech的FT160是专为下一代小型化电子设计的最先进的微门和超薄涂层分析仪。

FT160 XRF分析仪可帮助用户在微连接器,PCB和半导体晶片上保持精确且一致的涂层,使得即使是具有可靠性和准确性的最小特征也是如此。

为分析MicroSpot和超薄涂层,FT160的光学和探测器技术为最小的特征而增强。

用户可以使用FT160进行更多

高强度X射线:一种新的多百葡萄球光学系统是仪器的中心部件,具有30μm的光束,适用于超小部件和微小半导体图案。

高灵敏度SDD检测器:这种高性能单位使计数率加倍,从而提高了生产率。

高清摄像头:更好地分辨出观察相机 - 具有16倍数码变焦 - 使PCB和半导体表面易于导航和易于查看。

智能控制器软件:可以将FT160编程为基于图案和形状自动识别测量位置,从而提高精度和吞吐量。

精确分析

定位阶段和多谱X射线光学器件的精度允许用户测量测量<50μm的特征上的纳米级涂层。

速度

在FT160内配备的新型高强度多百常视镜和增强型SDD检测器使得与传统设备相比,仪器的吞吐量增加了一倍。

多功能性

通过大型门易于装载和移除零件,大型样品台容纳具有广泛尺寸和形状的组件。

耐久性

坚固的底盘已经在复杂的生产或实验室设置中设计并测试了耐用性。

当今电子制造商的理想分析仪

FT160的鲁棒特性使其成为实验室的优选仪器,其中具有繁重的工作量,可以是维持工作流程的多功能性,准确性和效率。

FT160提供:

  • 测量<50μm的特征
  • 快速的结果和易用性,以确保高吞吐量
  • 允许查看测试的大型样本观察窗口
  • 用于快速样品布置的大门和舞台
  • 多毛细管光学和高灵敏度的SDD检测器,可实现优异的精度

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