高性能TXRF光谱仪的超痕量元素分析。TXRF是ICP的一种可行的替代方案。
总反射X射线荧光（TXRF）光谱长期以来一直是微量痕量样品分析的优选方法。与之S4 T-Star，用户可以实现简单的TXRF，用于绕时钟操作和保证数据质量。
优点包括有用的软件例程，自动QC程序和对检测限的相当大改善。用户还可以使用采样运营商和类型的灵活性受益。
好处
- 一系列的样品托盘和不同的工具，以限制污染风险和错误，并加快样品制备。
- 用于多个用户操作，最大容量为90个样本。
- 专为在工业常规分析中的时钟运行而设计
- 高灵活性能够直接分析不同载波上的多种类型的样本。
- 通过自动质量控制功能确保仪器和数据质量。
- 通过台式TXRF光谱仪实现子PPB系列中的最低检测限值。
示例性样本多功能性
当分析各种反射载体上的膨胀范围的样品类型时，S4 T-Star提供了显着的多功能性，使其优于ICP，其需要在完全溶解状态下液体样品。
新的食物，环境和制药法规都不担心
- S4 T-STAR为空气，流出物，土壤和水分分析提供了一种灵活的解决方案，可以恢复健康的环境;例如，直接测量低PPB范围内的废水，流出物和浆液中的污染物来监测环境。
- S4 T-Star是一种有效的工具，用于防止全球化供应链中的食物欺诈。例如，直接分析水稻低水平可以根据世卫组织/粮农组织标准确认食品安全。
- S4 T-STAR根据即将出台的欧盟和美国药典指南跟踪制药生产中的催化元素，如检测活性药物成分(API)和添加剂中的亚ppm催化元素。
S4 T星