的M4龙卷风是一种台式x射线荧光光谱仪，用于分析各种样品，特别是不均匀甚至不规则形状和粗糙表面的样品。大的样品室可容纳各种各样的样品大小。该系统既可以在真空模式下使用——用于检测轻元素——也可以在环境空气中使用。
最小的光斑尺寸为高空间分辨率
M4龙卷风通过入射X射线束的准直实现最小的光斑尺寸。先进的多百葡萄球光学器件可以产生低至25μm的斑点。
TurboSpeed样品阶段
涡轮型X-Y-Z阶段支持分析“在飞行”，而是在阶段运动时测量。定义斑点，线条和测量区域与具有可变放大率的双视频显微镜辅助。该系统还用于样本图像记录。
多达两管柔性激发
使用最多两个管不同的目标材料允许仪器适应特殊的分析任务，并提高灵敏度或速度的测量选定的元素组。欧洲杯足球竞彩此外，6个过滤器可用于过滤一次辐射。
XFlash具有最高的检测效率®SDDS
M4龙卷风配备了最新的XFlash®硅漂移探测器技术，提供最高计数率能力和能量分辨率优于135 eV(可选优于125 eV)。这保证了最佳的峰值分辨率和最短的测量时间。
多探测器系统
最多三个XFlash®探测器可以同时安装。这进一步提高了分析速度。由于探测器安装在一个角度，这也减少了由样品地形造成的阴影效应，并有助于识别衍射峰。
M-Quant用于精确的无标准分析
M4的ESPRIT软件套件使用特殊的基础参数模型来精确定量测量的光谱。
EasyLoad用于快速示例交换
M4龙卷风配备了一个电动样品室门，按下按钮即可打开。样品台同时自动移动到前面，样品可以很容易地交换，而不需要进入腔室。