表面检测探针

的表面检测探针从ETher NDE提供了出色的低频性能，具有较宽的频率范围，通过众多层材料提供聚焦穿透。

表面探测探头:地下探测探头

ETher NDE的一些关键特性井下ID检测探头包括:

• 集成四路Lemo连接器
• 直角探头本质上是平衡的
• 内置的平衡线圈

表面检测探针:平面探针

ETher NDE的一些关键特性平面ID检测探针包括:

• 低调
• 1.5米整体电缆
• 内置的负载

好处

• 广泛的频率范围
• 特殊的低频性能

应用程序

地下ID探针:反射式表面下探头-用于表面下腐蚀和缺陷的一般检查。该探头具有优越的穿透深度，适合多层检测。

表面平滑ID探针:绝对金属分选和一般的表面探头-低轮廓，因此，完美的区域，难以检查。