这Ultim®Eight.在SEM中为EDS提供最佳的空间分辨率和低能量性能。与传统的大型SDD相比,优化几何和传感器设计的极端电子和无窗设计的集成高达15倍的灵敏度。
- 在低于2 kV Todeliver Sub-10 NM空间分辨率的精力下工作,散装样本检测和Li X射线的映射
- 结合浸没光学元件,收集高度灵敏度数据,最多30 kV没有任何折衷
- 欧洲杯足球竞彩Sub-1 KV的材料表征
概述
Ultim Extreme Silicon漂移探测器是超高分辨率Feg-SEM应用的革命性解决方案,并提供比传统微型和纳米分析所提供的更好的解决方案。
Ultim Extreme是一个无窗口100毫米2Ultim的版本旨在提高空间分辨率和敏感性。它采用激进的几何形状来优化成像,以及在超高分辨率Feg-SEM中的EDS性能,同时在短工作距离和低kV时工作。随着ULTim Extreme的使用,EDS分辨率达到了SEM的分辨率。
特征
- SEM-EDS的最佳空间分辨率
- 最准确和最快的纳米表征
- 表面科学敏感性欧洲杯线上买球
- 最大光电元素灵敏度
- 在最低kV处的材料的分化欧洲杯足球竞彩