表面计量在制造业中的无缝集成将带来巨大的效益。集成表面计量允许制造商对他们的生产过程有即时反馈,提高产品质量和成本效益。
Polytec的TopMap表面计量系统用于监控制造过程;帮助制造商确保他们的工艺能力得到满足,生产保持在规定的公差范围内。
减少拒绝率-增加过程能力
目前,TopMap 3D表面剖面系统提供了一套全新的创新功能,用于质量控制任务。TopMap QC包支持表面检测,特别是在具有挑战性的生产环境中。
- QC验证人通过补偿影响精度测量的环境干扰,避免在具有挑战性的生产环境中出现假废品
- QC保护外壳提供了大量的抵抗粗糙的生产环境
- 节省时间的电动倾斜装置,准确定位样品
- QC软件定制提供了特定于应用程序的软件适配和在线测量的简单集成
- QC操作员界面提供简单的一键式解决方案在生产水平,感谢预先定义的测量配方
- QC条码扫描器简化了加载正确的设置,帮助避免操作员失败
- QC设置比较器有助于实现全球标准化,简化监测测量设置和快速诊断
关键好处
- 创新的ECT环境补偿技术有助于避免在具有挑战性的生产环境中出现错误的拒绝
- 达到并监控全球质量标准
- 省时的电动倾斜装置提供精确的样品定位
- 简化的加载设置可以节省时间
- 简单的一键式解决方案有助于避免操作人员故障,节省时间
- 在粗糙的生产环境中保护测量
采用ECT环境补偿技术的TopMap光学表面计量
使用TopMap QC包降低表面质量检测的拒绝率
使用ECT环境补偿技术在生产环境中避免错误的拒绝。
使用Polytec条码扫描器加载正确的设置可以避免操作人员错误。