TEM应用的精英T能谱系统

Elite T是用于透射电子显微镜(TEM)的下一代EDS系统，采用了具有最先进的内置电子器件的快速SDD。Elite T独特的几何形状和强大的量化程序为所有TEM应用提供了优化的分析解决方案。

增加的立体角(SA)的最佳结果

的Elite T EDS系统是这样设计的，它提供了优化的几何结构，以保证最佳可能的性能。对于选择的瞬变电磁法模型，可以使用双探测器实现2个以上的立体角(sr)，这增加了计数率，并保证对敏感样品的数据采集更加快速。

光谱显示SiO₂由精英T收集的样本。

没有窗户的设计

Elite T检测器设计独特，无需在模块前面设置典型的保护窗口。这个设计:

• 在低浓度下提高映射速度和轻元素检测
• 提高探测器的光敏度
• 使传感器放置的灵活性，最大限度地暴露在信号

好处

内置数据采集和信号处理电子学

• 降低噪声，提高检测极限，获得更好的信号/噪声比

智能集成探测器

• 确保自动缩回到安全位置，无需用户参与

自动标定算法

• 可重复，快速，准确的设置

团队^™软件套件允许用户优化他们的分析时间，并从他们的样本获得最好的可能的数据

• Smart Quant -几个健壮的量化例程在TEAM中执行^™软件
• 智能轨道-保证最佳的工作条件设置
• 专家识别-开创性的一步峰识别程序
• 智能映射-自动计算所需的收集时间，并检测样品中存在的元素
• 智能漂移-监测和动态修改参数，以考虑漂移的变化
• 智能数据管理-增加用户友好性，并提供简单的文件管理