Bruker AXS推出了最新的ATLAS™ 测角仪D8探索升级版x射线衍射的解决方案。测角仪提供了无与伦比的角度和波束定位精度。
在强度、形状和峰值位置方面，要求特别高的应用程序可以受益于更可靠和准确的数据质量。可选的非共面探测器臂能够对样品特性进行高精度的面内掠入射衍射（IPGID）分析，平行于超薄膜的表面和表面敏感研究。
地图集™ 测角仪包括巧妙的机械装置，当与Bruker的新型自动扭矩控制（ATC）集成时，可提高较重部件的运动精度，同时减少机械磨损。
布鲁克D8探索升级版
D8 DISCOVER Plus的主要好处
地图集™ 测角计
- 专用空间精度提供了梁定位的最大稳定性
- 行业领先的角度精度：在NIST SRM 1976上建立的整个角度范围内确保±0.007°2θ
- D8系列组件，如样品台、定位摄像机、光学元件、非环境和探测器技术，可以轻松集成
Non-Coplanar检测器的手臂
- 专利ATC和直接角编码器，最大精度
- 用于分析超薄层和面内样品特性的第三测角仪轴
- 高度精确的安装轨道，可灵活配置光束路径
- 自动距离检测，实时校准探测器
多功能样品处理
力量的D8探索升级版可配备不同的样品台，以满足特定的应用需求，从应力/纹理和晶圆映射到常规粉末衍射和结晶井板筛选。所有样品台均配备卡口支架，可实现无对准和快速交换。
紧凑UMCPlus 80
- 可用于绘制尺寸为2〃–4〃的晶圆图
- 包括XRPD快速旋转器
- 特点五位置样品更换与51毫米直径的样品
紧凑UMCPlus 150
- 可用于绘制尺寸为6〃–8〃的晶圆图
- 功能电动和真空送晶片卡盘和倾斜阶段
- 包括反射模式96孔板
为中心的欧拉摇篮
- 可以用来映射2个″-4个″的晶圆
- 应力和纹理的侧倾角可以达到90°以上
广泛的组件的兼容性
先进的x射线源
- 采用第二代光学系统的IμS微聚焦光源，不需要水冷却，产生优良的点束
- 高强度，低维护使用新技术来源
- TXS-HE最大功率密度为6kw /mm2.与Snap-Lock和按钮光学选项
高效检测技术
- EIGER2 R 500K提供超过500K的最佳尺寸像素，具有超高动态范围，适合材料研究应用欧洲杯足球竞彩
- 专有的LYNXEYE系列探测器提供卓越的能量分辨率，产生显著的峰-背景和荧光过滤
- 无与伦比的系统集成与DIFFRAC的完全支持。套件PLAN.MEASURE.ANALYZE工作流
D8 DISCOVER plus高性能x射线衍射布鲁克
图1所示。共面测量几何中的D8 DISCOVER Plus
图2。非共面测量几何中的D8 DISCOVER Plus