尺寸XR扫描探针显微镜:具有AFM与纳米odma

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的XR扫描探针显微镜(SPM)系统布鲁克纳米表面集成了多年的研究和技术进步，在纳米尺度分析中提供最大的能力、功能和性能。

针对Icon的极限研究(XR)系列SPMs^®和FastScan^®AFM平台为纳米电化学、纳米电学和纳米机械特性的尖端研究提供独家包装解决方案。此外，SPM使流体、空气和化学反应或电气环境中的材料和活性纳米系统相对容易量化。欧洲杯足球竞彩

的图标^®和FastScan^®平台有三个不同的Dimension XR配置，在改进的包中提供尖端的研究能力:

XR纳米力学

可进行定量的纳米级表征，范围从坚硬的陶瓷和金属到软而粘的水凝胶
使用最新的AFM-nDMA™模式，可对大块DMA和纳米印迹技术进行相关的纳米力学表征
提供一系列模式，以彻底识别最小的结构，空间分辨率低至亚分子单元的聚合物链

XR Nanoelectrical

提供以前无法实现的数据与单一测量
提供每个像素的电子光谱与最新的DataCube模式的机械性能测量相关
在单一系统中涵盖最广泛的电子AFM方法

XR Nanoelectrochemical

在溶液中同时进行机械、电气和电化学映射
获得空间分辨率小于100 nm的电化学数据
允许强大的电化学AFM (EC-AFM)和基于AFM的扫描电化学显微镜(AFM- secm)

具有最高空间分辨率的完整表征

在全球范围内，有数千篇同行评议的科学论文，但大样本的FastScan^®和图标^®AFM平台已经帮助改变了材料科学和原子力显微镜的前景。欧洲杯足球竞彩欧洲杯线上买球

这些传奇平台具有新颖的Dimension XR配置，充分利用了超过30年的AFM创新，为尖端纳米电化学、纳米电学和纳米力学研究提供定制化和开箱开箱的表征。

然而，无论选择何种类型的配置和平台，用户都将受益于最新的技术发展和行业中最高的性能特性，以及任何商业可用的AFM最简单的工作流和最高的测量再现性。

维图标^®是世界上使用率最高的大样本AFM平台，提供卓越的性能、卓越的生产率和业界领先的应用程序灵活性。

卓越的生产力，从一个样品到多个，自动化的测量食谱和快速扫描无数的无人值守的测量到预设设置
最高的重复性和性能，最低的漂移和噪声，通过科学发现和创新材料的广泛出版记录证明欧洲杯足球竞彩
在一个AFM平台上，通过相关的方法和测量模式，可对小、大或多个样品进行无与伦比的灵活性

维FastScan^®平台是精确、分辨率、扫描速度、噪声和漂移的完美平衡的行业基准，使快速扫描原子力显微镜成为可行的商业现实:

在流体和空气中提供最快的扫描速度，自动校准的激光和探测器，“智能接合”无与伦比的生产力和详细的工作流程
集成了尺寸图标的所有优点^®平台与图标的使用^®扫描头
通过业界最精确的尖端力控制，延长尖端寿命和高分辨率

纳米机械应用的定量分析

用于快速扫描的尺寸XR纳米力学的配置^®和图标^®AFM系统提供了一套完整的能力，用于定量和快速定义材料的纳米力学性能，包括从坚硬的陶瓷和金属到软而粘的复合材料和水凝胶的样品。欧洲杯足球竞彩

此外，XR纳米力学捆绑解决方案涵盖了纳米尺度AFM纳米力学测量方法的整个演变过程，例如布鲁克纳米表面公司(Bruker Nano - Surfaces)全新的、开创性的AFM纳米动态力学分析。这个AFM是第一个也是唯一一个与批量DMA绑定的解决方案。

革命AFM-nDMA

AFM首次提供了定量和完整的纳米级聚合物粘弹性分析，探索材料在线性范围内的流变相关频率。欧洲杯足球竞彩参考频率跟踪、相位漂移校正和专有的双通道检测允许在流变相关的0.1至20 kHz范围内进行小规模应变测量，用于直接连接到整体DMA的损耗切线、损耗模量和存储模量的纳米尺度测量。

独家PeakForce QNM

这种模式通常能够定量表征纳米力学特性，如变形、耗散、粘附和模量，并同时以原子尺度分辨率对样品形貌进行成像。

frequency-calibrated探针可以从力量纳米表面现在允许定义粘附和几何监测探针和样品之间的接触最少的不确定性在软测量和粘性材料的< 1 kPa 100 GPa,而为结果提供高分辨率纳米级映射。欧洲杯足球竞彩

FASTForce体积

通过这种模式，线性斜坡的工作频率扩展了400 Hz以上，这有助于弥合标准Force Volume映射和PeakForce QNM之间的频率差距。此外，工作频率的重叠使模态之间的纳米力学相关性研究成为可能，提供了更大的测量置信度，同时使性能材料频率相关性分析成为可能。

创新的FASTForce卷CR

接触共振可以测量广泛的模量范围，是纳米力学测量的有力工具。但是，到目前为止，它的使用一直受到接触模式的限制，例如具有挑战性的分析，缓慢的成像速度，以及需要专门的硬件来获取全光谱。XR纳米力学解决了这些问题，提供了可靠的粘弹性和弹性特性数据。

多维Nanoelectrical表征

用于快速扫描的尺寸XR纳米电的配置^®和图标^®AFM系统在单个系统中包含最全面的电气AFM方法。PeakForce KPFM™和PeakForce TUNA™已经建立了令人难以置信的扩展材料研究的出版记录，从传统的基于接触的电模式到相关的机械和电数据。欧洲杯足球竞彩

布鲁克纳米表面公司最新的DataCube模式现在提供每个像素的多维纳米尺度数据，同时在一次测量中捕获力学和电学特性。

专有DataCube模式

这些模式利用FASTForce Volume在每个像素上执行力-距离谱，停留时间由用户定义。通过高数据捕获率，在停留时间内进行一系列的电测量，导致每个像素的机械和电光谱。通过DataCube模式，在单个实验中就可以完成完整的表征，这在市场上可用的AFM中是不可能的。


技术	Cond-uctivity	Imped-ance	载体密度	压电	本地电子商务活动	潜在/字段
DataCube模式	DCUBE-TUNA DCUBE-CAFM DCUBE-SSRM	DCUBE-sMIM	DCUBE-SCM DCUBE-sMIM DCUBE-SSRM	DCUBE-PFM DCUBE-CR-PFM	DCUBE-SECM	DCUBE-EFM
PeakForce攻丝(PF)	PF-TUNA	PF-sMIM	PF-sMIM		PF-SECM	PF-KPFM
开发模式		sMIM				EFM KPFM
联系方式	金枪鱼碳原子力显微镜 SSRM	sMIM	供应链管理 sMIM SSRM	烤瓷	SECM

最高分辨率扫描电化学成像

用于快速扫描的尺寸XR纳米电化学(NanoEC)的配置^®和图标^®AFM系统为实时定量检测电化学反应提供了一种交钥匙解决方案。该系统利用PeakForce SECM™和EC-AFM模式在电化学电池中进行原位形貌扫描。它们是专门为在挥发性溶剂和电化学控制下的长期原位电极分析而开发的。

独家PeakForce SECM

这种模式的空间分辨率小于100纳米，重新定义了在纳米级可视化液体中的化学和电气过程。

与传统技术相比，PeakForce SECM™显著提高了多个数量级的分辨率。这促进了对生物传感器、腐蚀科学和储能系统的全新研究，为对单个纳米孔、纳米相和纳米颗粒的新测量铺平了道路。欧洲杯猜球平台欧洲杯线上买球PeakForce SECM™是唯一提供纳米级横向分辨率的电化学、地形、机械和电子地图并发捕获的模式。

布鲁克纳米表面公司提供的预先安装的PeakForce SECM™探头，操作安全方便，改进的支架为敏感信号处理提供了电稳定的设计。经过超过10小时的EC测试和多次重复使用的清洗周期，高度稳定的探针的性能得到了证明。

无限的灵活性扩展研究

用户为他们的研究选择的任何Dimension XR配置都允许添加其他一些菜单功能，以进一步定制系统，以满足他们现在和将来的实际应用需求。与Bruker的各种专有AFM方法、模式和模式改进一起，Dimension XR系统提供了独特的能力，可以将纳米尺度的研究提升到一个全新的水平。

黑暗的电梯

DataCubes:
- DCUBE-SSRM
- DCUBE-SCM
- DCUBE-sMIM
- DCUBE-PFM
- DCUBE-CR-PFM
- DCUBE-TUNA

静电力(EFM)

LiftMode™
磁力(MFM)
PeakForce KPFM™
PeakForce sMIM™
PeakForce SSRM™
PeakForce金枪鱼™
压电响应(PFM)
扫描电容(SCM)
扫描扩散阻力(SSRM)
扫描隧道显微镜
AFM-SECM (PF-SECM)
电化学(EC-AFM)

维XR配置

		XR纳米力学	XR Nanoelectrical	XR NanoEC
Nanomechanics功能	AFM nanoDMA (0.1 - 300hz)	•	ο	ο
	RampScripting	•	ο	ο
	MIROView	•	ο	ο
Nanoelectrical功能	PeakForce金枪鱼(CAFM)	ο	•	ο
	DataCube金枪鱼	ο	•	ο
	PeakForce KPFM	ο	•	ο
	黑暗的电梯	ο	•	ο
	液体电金枪鱼	ο	•	ο
Nano-electrochemical功能	PeakForce SECM /电化学	ο	ο	•
Nano-electrochemical功能	DataCube SECM	ο	ο	•
其他功能	图标FastTapping	•	•	•
其他功能	SAMV	•	•	•

图例：标准•可选ο

维XR规范

	图标扫描头	快速扫描头
X-Y扫描范围(微米)	≥90 x 90	≥35 x 35
Z范围(μm)	≥12	≥3
垂直噪声地板 - RMS / Adev (pm)	≤30/25，适当环境下的高度，典型成像BW(≤625 Hz)	≤40/32，传感器在适当的环境(≤625 kHz)
x - y位置噪声 - RMS/Adev，闭环(pm)	≤125/100	≤145/116
Z传感器噪声 - RMS / Adev (pm)	≤20/15典型成像BW(≤625 Hz)
系统漂移	< 200点/分钟
样本大小/持有人	210mm真空吸盘，用于直径≤210mm，厚度≤15mm的样品
机动位置	可检测面积150 × 180 mm，手动旋转卡盘; 2 μm重复性，单向;3 μm重复性，双向
光学	自动对焦和数字变焦; < 1μm分辨率; 180 ~ 1465 μm观察面积	自动对焦和数字变焦; < 1μm分辨率; 130 ~ 1040 μm观察面积
环安卫	CE认证

尺寸XR扫描探针显微镜:具有AFM与纳米odma

图像- 1

图像- 2

图像- 3

维图标XR

维FastScan XR

图像- 6

图像- 7

DCUBE-PFM测量清楚地显示了BiFeO3薄膜上每个离散像素在不同电位水平上翻转的畴。

(A)探针的SEM图像;(B)以20 mV/s的扫描速率从50次连续扫描中选择第1、25、50个CVs;(C) 10 mM [Ru(NH3)6]3+剖面的COMSOL模拟;(D) 2小时安培测试，在-0.1 V对AgQRE，插入放大从70到120分钟;(E)模拟(虚线)和实验(实线)逼近曲线。C和E图像由C. Xiang和Y. Chen提供。