奥林巴斯Vanta™Element手持式x射线荧光(XRF)分析仪在一秒钟的时间内，可以对合金等级进行元素分析和分类。
- 快速品位识别和屏幕上的品位比较加快调查分拣废料和制造金属
- 包括一个类似智能手机的用户界面(UI)，易于理解和用户友好，减少用户培训和简化排序过程的需要
最先进的XRF分析仪功能
Vanta™Element分析仪的连接特性使用户的废金属回收和质量控制流程得以简化。
重复性和准确的结果
方便的数据管理
- 奥林巴斯科学云™支持云数据存储和实时访问远程数据
- 无线连接(可选)，便于将数据传输到网络文件夹
- 结果可以存储在1gb Industrial microSD™卡中
- 直接转移到USB驱动器
负担得起，强大的手持XRF
该分析仪是为具有挑战性的环境而设计的，能够降低拥有成本。
- 跌落测试(MIL-STD-810G)，防止跌落，从而减少昂贵的维修需要
- 防护等级为IP54，防潮防尘
- 不锈钢面板确保防止磨损
- 厚(50µm)，坚韧®窗口保护分析仪
- 额定连续测试范围为−10°C至45°C(14°F至113°F)
- 更换窗户不需要任何工具