等离子体FIB和UHR SEM的组合 - Tescan Amber X

Tescan Amber X是分析性等离子体FIB和超高分辨率(UHR)SEM解决方案,该解决方案旨在为对典型的GA FIB和FE-SEM仪器的样品提供材料表征。欧洲杯足球竞彩

Tescan Amber X配对A XE等离子FIB与BrightBeam™SEM光学元件,可在最广泛的传统和新颖材料范围内提供高吞吐量,大面积离子铣削和无现场的超高分辨率成像,用于2D和3D多模式表征。欧洲杯足球竞彩使用Tescan Amber X,您可以涵盖您今天所拥有的材料调查需求,并为欧洲杯足球竞彩您的未来需求做好准备。

Tescan Amber X的等离子FIB可以快速铣削大型横截面,最多1毫米,以及常规的铣削和抛光,以进行样品制备。XE等离子体束会产生最小的损害,并且不会引起植入污染。氙离离子的惰性性质意味着可以实现诸如铝等材料的无污染微样品制备,而不会冒着通过常规液体金属离子fib发生的镀铝离子植入来改变微结构或机械性能的风险。欧洲杯足球竞彩

列内SE和BSE探测器在FIB-SEM重合点上进行了优质成像进行了优化。Tescan Amber X用于微分析工具的专有几何形状不仅为微分析,而且为多模式FIB-SEM层析成像提供了前所未有的分析潜力。

Tescan Amber X由Tescan Essence™提供动力,可自定义的GUI软件,轻松地从多用户,多用途工作站转换为用于高吞吐量,大面积Fib铣削操作的专用工具。

关键好处

  • 高吞吐量,大面积高达1毫米
  • 无GA的微样品制备
  • 超高分辨率,无现场的FE-SEM成像和分析
  • 列内SE和BSE检测
  • 高通量,多模式FIB-SEM层析成像的斑点优化
  • 优质的视野,方便导航
  • Essence™易于使用的模块化图形用户界面

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