带有FEG源的桌面SEM,用于高亮度成像 - 现象PHAROS桌面SEM

Thermo Scientific的Phanom Pharos G2 FEG-SEM有助于将现场排放SEM带到用户的桌面上。在图像质量方面,PHAROM PHAROS G2 FEG-SEM在提供更好的用户体验的同时,将超过各种落地SEM。

PHAROM PHAROS G2 FEG-SEM使FEG的性能由于其吸引人的形式和所需的短训练而易于访问,这对于到目前为止的工业和学术实验室所需的简短培训,这些实验室还没有将SEM视为现实的选择。

极快的样品加载可以实现快速样品交换,从而可以提高生产率。与最终被完全预订的其他SEMS相反,Pharom Pharos G2 FEG-SEM执行成像和分析如此之快,以至于它作为步行工具都很好。

新的现象Pharos G2 FEG-SEM将其加速度电压范围延伸至1 kV,以更好地隔热和对梁敏感的样品,最高20 kV,其分辨率为2.0 nm,可显示最佳细节。

主要特征

独特的现场排放源

PENOM PHAROS G2 FEG-SEM在桌面SEMS中是独一无二的,并提供了田间发射源,可确保清晰的图像,高亮度和稳定的光束电流。

出色的解决力

PENOM PHAROS G2 FEG-SEM在20 kV时提供2.0 nm的分辨率。这样的性能显示了纳米颗粒的形状,涂料中的瑕疵或其他因Tungsten SEMS或其他桌面欧洲杯猜球平台SEM丢失的功能。

温和的成像

PENOM PHAROS G2 FEG-SEM的电压范围低至1 kV,并允许对束敏感的样品(如聚合物)和绝缘样品进行成像,而无需涂涂层。结果,纳米级表面特征没有隐藏。

更高的生产力

尽管FEG SEMS难以容易且难以操作,但Pharom Pharos G2 Feg-Sem只需要一张桌子和不到一个小时的培训即可。通常,未经接受高端FEG SEMS工作的硕士学生,访客或其他科学家可以轻松地使用Phanom Pharos G2 FEG-SEM来制作引人注目的图像。

信息世界

PENOM PHAROS G2 FEG-SEM在SE,BSE和EDS探测器的帮助下共同获取形态数据,共同获得了形态学数据。它带有一系列用于温度控制或电气实验的样品持有者。

规格

资料来源:Thermo Fisher科学 - 电子显微镜解决方案

解析度
  • 2.0 nm(SE),3 nm(BSE)20 kV
  • 3 kV的10 nm(se)
电子光放大范围
  • 最多2,000,000倍
光光放大
  • 27-160X
加速电压
  • 默认值:5 kV,10 kV和15 kV
  • 高级模式:1 kV和20 kV之间的可调节范围
真空模式
  • 高真空模式
  • 中型真空模式
  • 集成充电模式(低真空模式)
探测器
  • 背散射电子检测器(标准)
  • 能量分散X射线光谱(EDS)dettor(可选)
  • 次级电子检测器(可选)
样本量
  • 直径高达25毫米(32毫米可选)
样品高度
  • 最多35毫米(100毫米可选)

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