Horiba Scientific推出了一个名为Omegascope的新型AFM光学平台。这种最新的交钥匙解决方案集成了光学和超分辨率的多距离研究AFM。
Omegascope AFM也是一种复杂的研究仪器，为科学家提供了一种专注于光子学和光谱的方法。它有反射配置，提供直接顶部和侧光接入。
The adaptability of the OmegaScope platform provides almost endless possibilities in the correlation of AFM imaging modes and high spatial resolution spectroscopies (fluorescence, photoluminescence, and Raman).
Features
无AFM注册激光与拉曼励磁激光的干扰
The 1300 nm AFM laser does not intervene with the most well-known visible, UV, and near-IR Raman excitation lasers (364 to 830 nm) and removes any parasitic effect on VIS light-sensitive biological and photovoltaic samples.
Direct (Below Objective) Pathway to Cantilever
omegascope系统包括完全分离的光学和AFM通道。这种独立性不限制拉曼激光所需的波长，并且相反，与通过与拉曼激励激光器相同的高孔径物镜的系统相比，其相反，整体系统的调节相反。
用户可以简单地重新聚焦高孔径目标，而无需进一步重新调整AFM激光到悬臂安装。此外，omegascope的设计确保对任何声学噪声和振动的敏感性较小，并提供相对较高的AFM稳定性。
Easy, Quick and Repeatable Cantilever Adjustment
由于固定的AFM激光设计，可以像以前一样快速且容易地制作激光至悬臂调整的激光激光。此外，一旦安装了相同类型的新悬臂，就可以轻松地发现用户样品表面上的相同点（几微米内的可重复性），并且在没有任何额外的搜索步骤的情况下扫描。
自动AFM注册系统调整
SmartSPM扫描探头显微镜是欧米斯卡普斯系统的反射配置的核心，也是第一款具有从划痕开发的电动/自动激光悬臂 - 光电二极管对准的SPM，以便与Horiba光谱仪结合。
快速扫描
- XY中> 7 kHz的扫描仪谐振频率>在Z中的> 15 kHz是AFM部门的最高
- 扫描可以比通过优化的扫描仪控制算法更快更快
具有高谐振频率的振动稳定性，声学稳定性和快速扫描仪
低漂移，快速响应时间和计量可追溯性。具有100×100 x 15微米扫描范围的行业挠性型闭环扫描仪中最好的能够进行大规模地区的测量，同时提供真正的分子分辨率成像。
扫描仪的高机械刚度和整个AFM都是欧米齐的优异性能的一体，防止有效振动保护。
这种特殊属性还使用户能够实现独特且更复杂的扫描算法，如顶部模式。在这种模式中，探针在扫描点之间的样品表面上方提升。
在每次扫描点中，探头都返回到表面。一旦尖端振荡幅度接近设定阈值，就量化扫描信号。这使得可以防止任何横向力相互作用，并且例如，确保探针，但同时有助于将扫描速率保持高达1 Hz。
易于样品更换
The design of the OmegaScope AFM platform enables users to alter the samples with the cantilever holder and AFM head in place. It actually enhances the experiment’s reliability and safeguards the system from potential operator errors while performing regular processes.
顶部和侧面光学访问
顶部和侧面光学访问尖端样本区域允许用户使用VI，IR和UV高NA Planapochofat目标检查相关AFM和光谱成像的完整能力（侧面目标：高达0.7 NA;顶部目标：高达0.7NA），其允许在宽的光谱范围和激发激光斑点区域的最小尺寸中与样品表面共聚焦检测光信号。
在成功的Tepl和TERS实验中，正确设计的欧米斯卡科系统的侧光通道在成功的TEPL和TERS实验中起着非常重要的作用，因为它提供了光场的相对相当大的Z分量，并且有效地触发了尖端样结中的等离子体共振。
顶部和侧面目标扫描仪
为了最佳地对齐拉曼激光束和AFM尖端，可以安装在底部，侧和顶部通道中的挠度引导闭环XYZ目标扫描仪。此外，该解决方案还提供了长期稳定性，对准自动化和最高的可能分辨率，除了在光输入/输出系统中具有少数光学组件的更广光谱范围，从而降低了有用光信号的浪费。
Built-in DFM Measuring Made with PLL
动态力显微镜（DFM）模式可用作omegascope系统的标准选项。对于此模式，通过使用集成到AIST-NT控制器中的锁相环（PLL）电路来开发频率调制（FM）检测器。
Through DFM, users can reliably sustain the minimal tip-sample interactions (that is, operation in the field of attractive forces), which can seem highly significant for successful scanning near-field optical microscopy (SNOM) and TERS experiments.
STM, Conductive AFM and SNOM Options
同时具有光谱测量，可以使用特殊模块配备，用户可以通过该模块，用户可以在三个线性范围内量化STM或AFM中的局部电流（1NA，100na和10μA）。可以在软件内更改这样的范围，其中每个可以从100Hz到7 kHz中选择所需的带宽。
在高达1NA和1300nm激光器的测量范围内的导电模块噪声水平为60 fa和1300nm激光器只是在光伏电镜头领域的电导率测量的新基准。
除了欧米斯卡群AFM平台的优异灵活性外，基于调谐叉反馈设计的SNOM选项可以毫不费力地纳入。除了典型的SNOM实验之外，用户还可以遵循纳米光学，特别是不可取的SNOM的经典，其中使用具有适当极化的飞秒激光脉冲的金属尖端的近场荧光成像系统。