JSM-IT800来自JEOL的超高分辨率现场发射SEM是一款开创性的FE-SEM，配备了今天可用的最先进的高分辨率分析技术。
JEOL IT800系列提供了一种新的分析智能水平，用于高空间分辨率成像和纳米级分析。
智能，灵活，强大
聪明的
配备内置JEOL能量分散X射线（EDS），IT800系列肖特基场发射SEM可简化工作流程效率和操作。强大的软件，超高分辨率和优雅的功能有助于获取数据，从观察到元素分析和随后以顺利的方式报告。
jeol neoenenn.®电子束控制系统以及最新的自动功能允许在高电流分析和高分辨率成像之间快速过渡，而不影响性能，从而导致无与伦比的易用性。
已经开发出精密的AI算法以纠正电子轨迹，实时改善电子镜片的控制，并自动对准光束，同时整流散光，焦点，对比度和亮度。通过Live EDS分析，可以在成像时直接监测样品的化学成分。
JEOL SEM平滑地整合了导航和光学成像、EDS实时分析和扫描电镜成像，只需一键操作。
灵活的
JSM-IT800系列配有巨大的标本腔室，同时容纳各种探测器。这些探测器包括多个EDS，CL，BSE，杆和WD。来自JEOL的独有的软X射线发射光谱仪能够并行和有效地收集极低能量X射线，同时提供无与伦比的化学状态分析。
强大的
IT800SHL-JEOL的FAL SEM具有子NM分辨率 - 提供从0.01至30 kV的加速电压和高达2,000,000倍的放大倍数，使用户可以实现纳米结构的令人难以置信的细节以及详细的元素分析。这种用户友好且高度通用的现场排放SEM提供FE-SEM的下一个分析智能。
高空间分辨率
JSM-IT800利用混合物镜，该镜头与透镜电子检测系统集成了静电和电磁镜头。由于镜片下方没有电磁泄漏，JSM-IT800非常适合使用EBSD分析样品和成像磁性材料。欧洲杯足球竞彩
透镜内减速和加速电子束的结合有助于降低低kV透镜畸变的影响，在最低加速电压下提供更高的分辨率。
最新的上部混合探测器（UHD）对SHL版本是独一无二的，并提供样品释放的外电子的S / N和检测效率，没有任何标本偏差。
JSM-IT800使用光束减速模式或BD模式，以减少非导电样本的成像时的充电。它还增强了低kV的分辨率，通过使加速电压降至0.01kV来改善表面形貌。
JEOL特定的透镜场发射枪的集成使得最多500A的光束电流。该电流可以递送到样品，也可以递送到孔径角度控制透镜（ACL），从而将大量探针电流改善为最微小的探针直径。这些特征使这种显微镜非常适合纳米结构的分析和成像。
增加灵敏度的新疯牛病探测器
除了固态BSE探测器（床）外，还可以提供多功能多分段（VBED）和闪烁体（SBED）检测器来改善来自各种检测角度的信号选择，灵敏度和响应，并构建样品的3D图像。
JSM-IT800现场排放SEM细节
主要特征
- neoengine智能自动电子束控制
- 多用途静电和电磁混合镜头设计提供出色的成像和分析性能
- 光圈角度控制透镜（ACL）在任何KV或探头电流下提供卓越的分辨率
- 包括最新的自动功能，如柱塞，焦点和光束对齐
- 可提供透镜的透镜场发射枪
- 巨大的标本室配有众多港口
- 梁减速（BD）模式降低了样本中镜头像差的影响
- 高空间分辨率成像和纳米结构分析
- 报告生成和数据管理的微笑视图实验室
- 提供元素地图和蒙太奇图像
- 用掺入的JEOL EDS元素筛选实时分析
资源
肖特基场发射扫描电子显微镜