Polytec的TopMap Micro.View +是一个先进的光学表面分析器。构建为模块化，此完整工作站可实现定制和特定于应用的配置。
Micro.View +提供了对纹理，表面粗糙度和微观结构形貌的最全面的分析。用户可以将3D数据与颜色信息集成，以实现显着的可视化和扩展分析，如缺陷的彻底文档。
Micro.View +中提供的可选的高分辨率5 MP摄像头提供设计的高度深入的3D数据可视化。
自动化启用和生产准备
电动和编码的炮塔确保了目标之间的平滑过渡。Micro.View +包括最先进的焦点查找器加上焦点跟踪器，使表面集中在各种条件下。
可选的电动XY，提示/倾斜级组合允许拼接和部件自动化
强调
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100毫米Z测量范围与CST连续扫描技术
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具有NM分辨率的高端白光干涉仪
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电动X，Y，Z，塔楼和尖端/倾斜保存重新定位
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焦点查找器和焦点跟踪器确保即时自动化
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模块化，特定于应用程序的配置
- 开放式龙门设计适用于大型和重型部件
- 有彩色信息线才能自行悬挂
彩色信息模式可实现缺陷的延长分析和文档
Xperts里面！下一代光学表面计量
Xperts里面！下一代光学表面计量
TopMap Micro。查看+
Focus Finder和Focus Tracker查找并保持焦点，非常适合自动化表面检查
Micro.View +是一个模块化光学表面分析器，用于深刻和详细的地形分析