Polytec TopMap微。视图is a compact and user-friendly optical profiler. This robust metrology solution is a combination of excellent performance and affordability.
TopMap Micro采用CST连续扫描技术，扩展了100 mm Z的测量范围。视图甚至可以量化纳米分辨率的复杂地形。
TopMap微。视图is an easy table-top setup and includes built-in electronics with the smart focus finder streamlining and accelerating the measurement process.
占地面积小，功能扩展
用户可以从可选的ECT环境补偿技术中受益，即使在具有挑战性和噪声的生产环境中，也能确保精确和可靠的测量结果。
TopMap微。视图is an economical quality control instrument meant for checking precision-engineered surfaces in research as well as manufacturing fields.
突出了
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三维地形、纹理和粗糙度的非接触测量
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表面光洁度可以在一个紧凑的装置中测量
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优越的横向分辨率
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采用CST连续扫描技术的100 mm Z测量范围
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用户可以选择特定于应用程序的目标
内部专家!下一代光学表面测量
内部专家!下一代光学表面测量
TopMap微。视图
TopMap微。视图table-top optical surface profiler
CST连续扫描技术允许使用整个100mm的定位范围作为测量范围