来自Brookhaven仪器的Bi-XDC（X射线盘离心机）粒度分析仪在单个仪器中提供离心和重力沉降，使这些颗粒尺寸达到目前的细粒子技术的尺寸尺寸。
X射线技术提供无差错测量，允许用户通过“单片机”过渡区域获得快速和精确的尺寸分布。
借助单一仪器，用户现在可以实现真正的高分辨率，精确的粒度分布，从10 nm右侧达到100μm。Brookhaven Instruments的最新扫描探测器技术和宽敞的盘速范围允许用户改进分析时间并延长可以检查的样品范围。
使用Brookhaven Bi-XDC粒度分析仪，除了基于X射线吸收的易质量敏感响应之外，用户不再需要担心光学校正和光学性质。
正常运行需要3至30分钟，基于要确定的粒径范围。实时进步实验映射在屏幕上。标准图包含由对数和线性尺度上的表面积，体积和数量称重的粒度累积和差异分布。
最多可重叠六个地块以进行比较目的，并且其他表格和其他显示选项提供定制报告，以获得广泛的目的，例如SPC图表。数据文件菜单可以简单地分析各种实验。
特色一目了然
-
轻松操作
-
精确和定量
-
克服混合物
-
范围-10nm至100μm
-
清除文本和图形报告
-
扫描头以实现出色的速度
-
X射线检测 - 不需要光学校正