聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)

日立公司推出了一款名为nx5000的高性能TripleBeam™fib - sem,它可以进行出色的TEM片层制备,并提供精确的横切和3D体积显微镜。

内置的基于“增大化现实”技术+/ Xe+光束有助于制备均匀、超薄、低损伤的透射电镜片层,即使在最复杂的材料上。欧洲杯足球竞彩

温和,高精度片层精加工

  • 多向铣削消除了窗帘
  • 采用内置氩气,可制成更平、更薄、更宽、损伤小的片层+/ Xe+广泛的梁
  • 遗传算法+防止引起的损害

聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)

图片来源:日立欧洲高科技公司

高性能成像

  • 即使在低kV下也能提供亚纳米分辨率
  • 使用高性能的双模扫描电镜(无场或浸没)可以清楚地观察到精细结构。
  • 用户可以通过多模STEM和灵敏的镜头内探测器随时获得所需的对比度

高性能通用航空+

  • 快速FIB/SEM切换(分时模式)允许现场制作和完全清晰的观察
  • 高通量,束电流超过100毫安

独特的样品处理方案

  • 试件直径可达150毫米,可通过载荷锁定快速交换
  • 利用内置的侧进杆支架,片层可以在真空下直接转移到透射电镜
  • 双倾斜分级提供了更多的自由度,为优秀的铣削几何

先进的自动化

  • 简单的配方创建者自动化薄片制备,成像,横截面生成等。
  • 使用CAD导航系统可以快速导航复杂样品
  • 多达20个TEM片层可以自动取出

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