Hitachi的Regulus8230是一种超高分辨率的冷场排放SEM，用于敏感和纳米结构材料。欧洲杯足球竞彩
图像最具挑战性的标本
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子纳米分辨率甚至低于1 kV可用
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最新的多检测系统，如能量滤波
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以浸入镜头检测系统提供的超低剂量高对比度成像
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通过角度可调Haadf，ADF和BF来理解内部样本数据
图像信用：日立高科技欧洲
先进的纳米分析
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针对环形或无窗口EDS检测器进行了优化，提供了卓越的光元件分析
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通过具有大于1 sR的实线的环形检测器的帮助，可以实现高度高灵敏度EDS
图像信用：日立高科技欧洲
快速样品处理
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通过负载锁定提供快速示例交换，直径为200毫米样品
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用户可以轻松地在其样本或持有者上导航，以便在获取的SEM图像或彩色光学图像的帮助下确定适当的感兴趣区域
强大的自动化工具
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借助自动阵列断层扫描的体积显微镜
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使用最复杂的脚本自动化复杂或重复的程序
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在CD-SEM算法的帮助下精确，校准的尺寸测量
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用户可以在多个视野上自动图像映像巨大的示例区域
未来证明
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在惰性气体或真空设置下载荷封装氧化敏感试样（如锂电池组件）
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使用Hitachi的专利离子液体或Cryo阶段的图像水合或敏感样品
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可以添加来自药物，光子学或矿物质的更多数据