EVG®6200 NT口罩对准器:最先进的口罩对准技术

的EVG®6200 NT以其自动化可靠性和灵活性而闻名,在紧凑的占地面积上提供先进的掩模对齐技术,以及最大的吞吐量、优化的总拥有成本和先进的对齐功能。

的EVG®6200 NT拥有操作员友好的软件,缩短了掩模和工装修改的时间,以及有效的全球服务和支持,使其成为任何制造环境的完美解决方案。

EVG6200 NT或全封装的EVG6200 NT Gen2掩模对准系统可采用自动化或半自动化配置,并配备了集成的振动隔离,在广泛的应用中实现了出色的曝光效果,如薄和厚抗蚀剂的曝光,深空腔和类似地形的图案,以及复合半导体等薄而易碎材料的加工。欧洲杯足球竞彩

此外,EVG专有的SmartNIL技术可用于半自动化和全自动化系统配置。

特性

  • 系统设计支持光刻工艺的通用性
  • 薄,精细,或弯曲的晶片处理多种晶片尺寸,快速转换时间
  • 晶圆或衬底尺寸从片范围到200毫米/8″
  • 在第一次打印模式下可获得高达180 WPH的产量,或在自动对齐模式下可获得高达140 WPH的产量
  • 自动无触点楔形补偿序列可与接近垫片
  • 动态对准功能与实时偏移校正
  • 自动原点功能,对中键精确定心
  • 支持新的UV-LED技术
  • 带有返工分拣晶圆管理和灵活的盒式磁带系统
  • 现场可升级从半自动化到完全自动化的版本
  • 可在自动化系统上手动加载衬底
  • 减少系统占地面积和设施需求
  • 成熟的软件功能和全面和研发生产之间的兼容性
  • 台面或独立版配有防振花岗岩台面
  • 多用户概念(无限制的用户帐户和食谱,不同的用户界面语言,以及可分配的访问权限)
  • 远程技术支持和GEM/SECS兼容性
  • 转换、重新工具和敏捷处理
  • 以下是额外的功能:
    • Nanoimprint光刻(零)
    • 债券对齐
    • 红外对齐

技术数据

来源:电动汽车集团

暴露源 汞光源/ UV LED光源
先进的对齐
特性
手动校准/现场校准验证
自动对齐
动态对齐/自动边缘对齐
对准偏移校正算法
吞吐量 全自动:生产能力首印:每小时180片
全自动:产量一致:每小时140片
晶圆直径
(底物大小)
高达200mm
对齐方式 顶部侧边对齐:≤±0,5µm
底侧对齐:≤±1,0µm
IR取向:≤±2,0µm /基底材料视情况而定
键合方向:≤±2,0µm
零对齐:≤±3.0µm
接触设置 真空触点/硬触点/软触点/接近模式/弯曲模式
楔形补偿 全自动- SW控制
曝光选项 间隔暴露/泛洪暴露/扇形暴露
系统控制 操作系统:Windows
文件共享和备份解决方案/无限。配方和参数
多语言用户界面和支持:CN, DE, FR, IT, JP, KR
实时远程访问,诊断和故障排除
工业自动化
特性
盒式/ SMIF / FOUP / SECS/GEM /薄,弯曲,翘曲,边缘晶圆处理
Nanoimprint光刻技术 SmartNIL®

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