EVG®20IR检测系统:粘合晶圆堆栈的快速无效检查

EVG20 IR检测系统提供了一种快速检查技术,专门用于融合晶圆。完整晶片通过IR传输的实时图像辅助空隙检测到测量0.5mm的半径。红外检测系统是作为独立EVG20工具的融合键合工艺的理想匹配,也可以作为EVG组合粘接系统中的车站。

特征

  • 完整晶圆的一次性检查
  • 实时成像
  • 空隙尺寸检测到半径测量0.5毫米
  • Maszara测试兼容
  • 可选的粘合针可用于直接粘合的实时可视化

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