Micromeritics的TriStar II Plus是一个完全自动化的表面积和孔隙率分析仪，允许高通量分析与卓越的精度。
该三站单元提高了常规质量控制分析的效率和速度，并具有分辨率、精度和数据简化能力，以服务于研究需求。
通过结合分析方法和数据简化的多功能性，三星II Plus简化了根据应用需求定制的分析。
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快速精确测量
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有成本效益的
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完全自动化的分析
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氪选择低表面积测量
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耐久的杜瓦，以适应更长的分析
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完美的高通量样品分析
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改进的数据还原
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高度的分析
三星II Plus -产品概述
视频字幕:Micromeritics Instrument Corporation
特性和好处
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三星II Plus作为一个高效的高通量系统，配备了三个样品端口，可以独立和同时操作。对于更大的吞吐量，多达四个单位可以使用一台计算机操作。
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标准的氮系统可用于测量低至0.01米的表面积2/ g。Krypton选项可以将表面积测量范围扩大到0.001米2/ g。
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等温套确保连续的热轮廓，连同整个长度的样品和饱和压力(Po)管。
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三星II Plus有助于分析各种吸附物，包括二氧化碳、氩气和其他非腐蚀性气体，如甲烷、丁烷和其他轻烃。
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自由空间可以量化，计算，或手动输入，提供最高的灵活性，以适应独特类型的样本，并强调速度时，需要。
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改进后的软件功能可以通过先进的NLDFT、气体吸附和汞侵入覆盖层获得详细的孔隙大小分布数据。
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在Micromeritics公司的MicroActive数据缩减和控制软件的帮助下，用户可以计算表面积和孔隙率。除此之外，用户可选择的数据范围横跨图形界面，可以直接建模t-Plot, BET, DFT和Langmuir解释。