EDAX EDS是扫描传输电子显微镜（STEM）应用的最有趣和实用的分析工具。
特征：
由GATAN提供动力的EDAX EDS提供了完全集成的数据捕获和信号处理，以及有助于配置和评估的特征。精英T硅漂移检测器优化光元性能并最大化收集效率，而数字仪®（DM）软件是在广泛的图像分析和分析技术中进行TEM/STEM实验分析和控制的行业标准。
这种潜在的组合使用户能够在困难条件下获得最佳结果。
精英T硅漂移检测器
- 紧凑的传感器几何形状使用户可以更接近样品，提高敏感样品快速数据收集的实体角度和计数率
- 为最佳反卷积提供了出色的分辨率和最小的峰值变化，以及快速映射和数据的时间极高的计数速率。
- 采用无窗设计，以获得对低能量的低能量的敏感性
DigitalMicrograph软件
- 完整的DM集成为所有TEM/STEM应用程序提供了强大的，多维的数据和可视化平台的一站式分析
- 允许用户在本机支持DM脚本和Python编程的情况下自定义分析
- 利用完全可自定义的数据捕获和单个调色板来准确维护和简化所有获取工作流程：区域，线，点和时间序列
- 多模式能力结合了所有茎数据，例如能量色散光谱（EDS），4D茎，电子能量损失光谱（EELS），阴极发光（CL）和成像，在统一平台上