Zeiss Axio Imager 2 POL

对于寻找能够可靠地执行复杂操作并产生出色质量且易于使用的显微镜​​的客户而言,来自Zeiss的偏光光显微镜的Axio成像仪是理想的选择。

客户可以从部分电动,编码或完全电动的型号中进行选择,并适应显微镜以适合个人必需品。

强调

Zeiss Axio Imager 2 POL

图片来源:Carl Zeiss显微镜GmbH

对自动组件标识的信心

由于自动组件识别(ACR),用户可以始终依赖显微镜设置。所有电动架子都可以自动识别目标。在完全电动的Z架内,ACR还可以识别反射器模块。Axio Imager会自动注册组件的交换。

可靠的长期成像得益于无振动设计

对于时间依赖性的高分测量和测量值,用户可以取决于轴成像仪的稳定性。鼻台炮塔,舞台载体和Z指南已被设计为一个小型,无振动的单元,与其他支架的其余部分隔离开。这个“稳定的单元格”提供了完美的测量设置,可获得出色的结果。

由于广泛的功能,舒适的操作

  • 用户可以简化复杂过程。他们可以通过单击对接站或看台上的触摸屏立即调节所有电动零件。
  • 可以在按钮的按下按下单个设置可以保存并毫不费力地检索。由于带有触觉表面的方便排列的控制按钮,焦点驱动器可以直观地操作。
  • 偏振光显微镜平台可以通过可自由定位的控制面板进行替代工作,该面板完全与看台分开。对比管理器和光管理器会自动选择理想的设置,从而产生可再现和一致的结果。

方法

Conoscopy:具有偏振光显微镜的快速可靠的晶体分析

偏振光显微镜可以同时捕获膜镜和正镜图像信息。由于额外的中间图像平面,可以同时看到专门设计的POL Phototube,可以同时看到十字准线,物体和虹膜膜片。

得益于可修改的虹膜隔膜,这也适用于综合范围的边界至最低晶体尺寸10 µm。

预先注重的Bertrand光学元件易于打开和关闭。这允许用户快速在进程之间转移 - 即使在录制图像或使用视频系统时也可以转移。

一致的测量性能

  • 借助0.1°Vernier和360°尺度的旋转,滚珠轴承架的直接测量(例如,用于计算矿物质中的裂解角)
  • 确定应变测量或光路方差

固定路径差的补偿器

  • 四分之一波板λ / 4
  • 全波板λ,可旋转+/- 8°
  • 全波板λ

客户可以访问广泛的补偿器,跨越0到30λ之间的测量范围。

具有可变路径差的补偿器

  • 楔形补偿器0-4λ
  • 测量补偿器
    • Berek倾斜补偿器0-30λ
    • Berek倾斜补偿器0-5λ

Axio Imager对更多方法开放,例如:

  • 使用Zeiss Axiovision软件进行数字分析(例如,使用粒子分析仪或晶粒尺寸分析)
  • 热显微镜

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