Laserfib用于Zeiss Crossbeam

体验新的Laserfib，用于Zeiss Crossbeam，这是用于超级样本大型样品的超级样本材料处理的飞秒激光。制造大小为10μm至1毫米或更大的样品。通过像SIC这样的硬材料切开深横截面，直接揭示了感兴趣的结构。

由于激光耦合到与主仪器室不同的专业室，因此用户可以轻松避免在激光铣削时污染纤维-SEM。

用户使用创新的Zeiss Crossbeam的创新Laserfib获得以下优势：

• 大量材料去除：在几分钟内（最多15moi。μm³/s）准备极大的横截面，宽度和深度最多可达毫米。
• 结合激光和FIB：快速进入深埋的结构，以进行焦距的离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）研究和进一步的FIB加工。
• 最小的损害：由于没有仪器污染的超短激光脉冲（飞秒激光），损坏和热影区的最低损害将保持在最低限度。

大量材料去除

在更少的时间内准备较大的样本

新的Zeiss Crossbeam的Laserfib是在几分钟内准备出异常大的横截面的理想工具，宽度和深度为毫米。Laserfib达到了最高15个MOI的最大去除率。µm³/s，由于飞秒激光的超短脉冲长度。

这些高消融速率适合用Zeiss Crossbeam制备用于进一步的FIB加工的样品，Zeiss Crossbeam在较小的规模（100 nm - 几个10μm）上以更高的精度补充了Laserfib。

图片来源：Carl Zeiss显微镜GmbH

结合激光和纤维

揭示所有结构细节

直接暴露在表面下方覆盖的区域，以各种材料显示所有结构特征。欧洲杯足球竞彩无论用户是否正在使用硬性或软质物质，导电或绝缘材料，Laserfib都可以以更快的速度处理它。用于微机械测试的钛合金支柱或碳化碳化钨的制备是应用的示例。

在激光处理之前，用户可以将FIB-SEM参考图片与3D数据（例如X射线显微镜数据）相关联。在激光处理后，将样品返回到主FIB-SEM室进行检查。结束纤维抛光，以带来更多的亮点。

图片来源：Carl Zeiss显微镜GmbH

最小的损害

进行准无动画

Laserfib使用Ultrashort激光脉冲（飞秒激光器）进行准精神分裂，从而最大程度地减少样品损伤和热影响区域。

为了消除污染，并允许在激光室和主Fib-Sem腔室之间安全，快速的样品运动，激光工作是在单独的室内进行的。

图片来源：Carl Zeiss显微镜GmbH