Zeiss Crossbeam的新型Laserfib使用飞秒激光器进行超快的材料处理大型样品。可以在10 µm至1毫米或更高的比例尺上制造样品。可以通过诸如SIC这样的坚韧材料和以直接方式披露感兴趣的结构进行深层横截面。欧洲杯足球竞彩
在执行激光铣削的同时，用户可以轻松地逃避对其纤维-SEM的污染，因为激光已固定在与主仪器室隔离的坚定室内。
在新的Laserfib的Zeiss Crossbeam的帮助下，用户可以从：
-
巨大的材料清除：在几分钟内（最多15英里/s），进行极大的横截面，宽度和深度升至毫米
-
最小的损害：由于超短激光脉冲（飞秒激光）在坚定的腔室中，损坏和受热区域保持最小 - 仪器中没有任何污染
-
集成激光和FIB：快速访问浓缩离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）分析和其他FIB加工的深埋结构
图片来源：Carl Zeiss显微镜GmbH
大量材料去除
在更少的时间内准备较大的样本
Zeiss Crossbeam的新型Laserfib是在几分钟之内深入到深度和宽度的极端横截面的理想工具。由于飞秒激光的超短脉冲持续时间，Laserfib的去除率最高为15 miO。每秒µm³。
如此高的消融速率非常适合用Zeiss Crossbeam制作样品进行额外的FIB加工，以更小的比例（100 nm至几10 µm）的精度为Laserfib进行补充。
图片来源：Carl Zeiss显微镜GmbH
结合激光和纤维
揭示所有结构细节
披露直接隐藏在表面下的区域，从而在广泛的材料类型中披露了所有结构细节。如果是硬或软材料，则导电或绝缘材料：Laserfib机器以无与伦比的速度进行样品。
应用包括在碳化钨中制造用于微力机械测试的钛合金柱或立方体制造。
在激光处理之前，用户可以将其FIB-SEM参考图像与3D数据相关联，例如X射线显微镜数据。激光处理后，将样品返回到主要的FIB-SEM室进行分析。执行最终的FIB抛光，以披露更多细节。
图片来源：Carl Zeiss显微镜GmbH
最小的损害
进行准无动画
由于超短激光脉冲（飞秒激光），激光导致了准炎热的烧蚀，从而减少了样品损伤并使受热影响区域的最小值保持在最小。
激光工作是在专用室内进行的，以防止污染，并允许在激光室和初级Fib-Sem腔室之间进行安全，简单的样品转移。
图片来源：Carl Zeiss显微镜GmbH