开普勒TM值是用于具有较大活跃区域和高平行性的垫子测试的垂直探针卡解决方案。开普勒产品为行业提供了最佳的测试解决方案，用于需要小垫子尺寸，良好的音高和广泛温度范围的设备。
这些功能对于在汽车，高性能微控制器（MCU）和驾驶员芯片以及各种其他应用中测试SOC线键设备至关重要。
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通过增强并行性并乘以同时测试的设备数量，同时遵守严格的机电要求，Kepler允许客户降低测试成本。由于半导体制造商不断降低总体测试成本，因此需要高的平行性解决方案，从而导致较大的活动面积探测。
大型主动探测区域以及高温范围都提出了许多独特的探测挑战，可以使用开普勒的独特体系结构来解决。
对于探测垫应用程序，新的开普勒垂直磁化探针技术提供了一个热和机械稳定的平台。由于其独特的高精度/低力2D垂直弹簧，该体系结构提供了良好的接触稳定性，具有优越的平面性控制，比更大的活跃区域进行了控制。
开普勒是一种适合服务的探测卡体系结构，可以在现场更换单个弹簧或探测卡组件，从而减少维修时间。
开普勒的设计用于在大批量制造环境中进行高探针计数多DUT测试，目的是降低总体测试成本，同时增加产量。
主要特征
- 完全自动化的弹簧头组件
- 专有的细球，低力垂直2D MEMS弹簧
- 多层陶瓷（MLC）空间变压器
- 完整的平面/倾斜调整能力
- 灵活的探针头配置，以支持不同的数组尺寸，设备布局和垫螺距要求
- 服务友好的体系结构 - 可更换的弹簧和组件
开普勒关键好处
- 出色的XYZ提示位置性能
- 热稳定的垂直弹簧体系结构，以支持广泛的汽车测试要求
- 紧密的垫螺距，核心垫和多个垫子行
- 稳定的电性能 - 低，稳定的CRE
- 在小垫子上探测损坏较小的小垫子
- 增强并行性以降低测试成本
- 快速现场维修以增加正常运行时间