用Spectrastar™XT-F台式NIR分析面粉，小麦和副产品

团结^®科学谱系^TM值XT-F是一个完整的分析仪软件包，可在不到一分钟的时间内准确地测量小麦，面粉和副产品在线或实验室环境中，设计用于铣削和烘焙部门。

光谱^TM值XT-F是磨坊主和面包师检查传入的小麦质量，监视回火操作，评估过程流以保证最佳铣削条件，认证原材料等等的现成解决方案。欧洲杯足球竞彩它带有一个带触摸屏控制的密封容器。

磨坊主的优势

• 过程中的铣削流测试可改善面粉的生产，并提供精确的数据，以优化成绩标准的混合
• 快速谷物分析可确保到达和钢化小麦是所需等级的
• 最终用户的合规性是通过完成的产品测试来确保的

面包师的优势

• 确保组成和质量的一致性，这将导致制造问题和最终商品更少
• 测试了收入和过程中原料的组成和功能质量（吸水，淀粉损伤和流变特性）

USCAN^TM值，具有简单图形接口和可靠的SQL数据库的软件包用于操作所有Spectrastar^TM值XT分析仪。常规操作员可以在15分钟内进行培训，以提供准确的，无关的结果。

革命性的真实对齐^®光谱学（TAS）技术^TM值XT是一项易于使用的技术，可以完美地对齐并监视仪器校准，以确认的光学标准，以在分析仪之间以及分析仪之间的一致结果。

特征

• 由于其强大的样本管理和报告功能，该分析仪已准备就绪
• 易于使用内置计算机实现独立设计
• 窗户^®10带有SSD的专业PC允许简单的网络交互。
• 便于使用
• 为了验证传入材料或获取至关重要的质量指标的欧洲杯足球竞彩样品，请使用数百到数千个样品产生的大量稳健校准库
• 在生产情况下使用案例以使用
• 为了在实验室或制造地板上进行方便的操作，包括17英寸触摸屏显示的密封外壳

好处

• 使用图形界面和模块化设计，它易于操作，几乎不需要常规操作员的培训
• 节省资金并减少浪费将有助于公司的底线
• 在大约30秒内，用户可能会有关键质量参数数据，从而允许快速质量控制响应
• 环保;使用很少的能量，不会产生有害化学物质或垃圾
• 样品制备很小
• 可以测量纤维，糖，脂肪酸，淀粉和其他困难成分以及水分，蛋白质和灰分

申请

优化铣削过程并合格烘焙食品的成分

光谱^TM值XT-F NIR分析仪将完成这项工作，无论用户正在测试成分质量和支持索赔，确保正确的批次或连续处理条件，还是验证最终产品以获得质量，标签或规格索赔。每个光谱^TM值XT-F是一台独立的机器，具有紧凑的足迹，可轻松在任何优质的实验室或生产环境中安装。

客户利用Spectrastar^TM值XT-F NIR分析仪在一系列商品中测试质量特征，包括：

面粉，小麦和副产品

• 观察回火过程
• 铣削副产品的质量控制
• 到达小麦的质量控制
• 为了提高提取和最大化输出，请注意灰分含量
• 检查过程流以验证铣削条件是最佳的
• 验证面粉的最终品质

图片来源：KPM Analytics

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这个怎么运作

高级样本管理和报告

为了获得最佳信号质量，Spectrastar^TM值XT-F NIR分析仪使用扫描单色器技术。这些系统中使用近红外光准确地量化每个波长的吸光度。强大的校准将这些频谱信息转换为几个组件值，这些值不可能在视觉上量化。这些系统是为了多功能性，易用性和速度而构建的，在不到一分钟的时间内检查了样品。

• 选择或仔细检查产品类型
• 填充仪器后，将样品杯放在仪器上
• 当新闻界开始时，用户的发现将在30秒内出现

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系统组件

• 为了精确测量小麦，面粉和副产品，请使用Spectrastar^TM值XT-F NIR分析仪设备
• 多杯适配器
• USCAN™软件
• 内置窗户^®带有17英寸触摸屏的10台计算机
• 真实比对光谱（TAS）标准
• ISI环杯/粉杯适配器

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校准

光谱^TM值XT-F进行了预校准，以帮助用户改善铣削操作并批准烘焙产品的传入成分。

校准包括：

• 地面小麦的副产品，例如中间和红色狗（水分，蛋白质和纤维）
• 完成的小麦（蛋白质，灰，吸水，水分，淀粉损伤，流变参数）
• 全麦（水分和蛋白质）的核

额外的团结^®现在可以适用于单一产品类型，水分，蛋白质和/或油的校准。

图片来源：KPM Analytics

软件

USCAN^TM值，具有简单图形接口和用于数据管理的实体SQL数据库的软件包，控制Spectrastar分析仪。常规操作员可以在15分钟内教授，以产生与操作员无关的结果。

用户可以利用社区软件平台操作Spectrastar XT Analyzers的计算机网络，该网络可实现远程管理，监视和报告功能。

查看参数会导致易于理解的接口。图片来源：KPM Analytics

通过常规历史记录审查，先前扫描的交叉引用数据。图片来源：KPM Analytics

统计过程控制（SPC）图表。图片来源：KPM Analytics

TAS诊断。图片来源：KPM Analytics

配件

可用的配件

• 社区仪器许可证^TM值（1年）
• 参考，使用了水分烤箱
• 各种尺寸的杯子，有柱塞的选择和样品环

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规格

光谱^TM值XT-F是用于面粉和小麦分析的完整分析仪套件。XT-F随附了面粉，全麦，全麦种子和副产品的样品杯和仪器校准。

Spectrastar™XT-F

资料来源：KPM Analytics

方面	宽度x深度x高度：39 x 53 x 64厘米（15.5 x 21 x 25英寸）
重量	22.0公斤（48磅）
力量	小于120-240 VAC，频率50-60 Hz
分析时间	10 - 60秒
探测器	高性能超冷的INGAAS扩展范围检测器
光源	Tungsten卤素灯，MTBF等级为10,000小时，用户可变
光带宽	10.0±0.3 nm实际FWHM
吸光度范围	最多3 au
测量模式	反射
波长范围	1400 - 2600 nm
波长精度	可追溯的标准参考材料小于0.02 nm
波长精度	小于0.005 nm
数据点数	1200
光度噪声全范围	小于20 µAU
仪器盒	粉末涂层铝，完全密封，没有排气或风扇
ISO 12099符合条件	动物饲料，谷物和铣削产品 - 应用近红外光谱法的准则
内置计算机	视窗®10专业，SSD
联网	LIMS兼容，HDMI端口，4个USB端口
环境温度	0 - 40°C（32 - 104°F）
环境湿度	小于95％的RH，不到85％的RH建议