Contourx-100光学专长仪已设定了一个新的基准，以便以一流的价格点确切且可重复的非接触表面计量。
紧凑型足迹系统在简化的软件包中提供了不妥协的2D/3D高分辨率测量能力，该软件包集成了数年的专有Bruker白光干涉测量法（WLI）创新。
下一代改进包括新的5 MP摄像头和更新的阶段，以实现更大的缝线能力，以及新的测量模式USI，以便于更大的便利性和灵活性，以在厚膜，机械化表面和摩擦学应用中进行准确性。与Contourx-100相比，用户将无法找到具有改进值的台式系统。
行业最佳Z解决方案
提供恒定的精确测量，与放大倍数无关。
用户友好的软件接口
提供直观的访问预编程过滤器和分析库的库。
无与伦比的计量价值
提供简化的设计，没有受损的测量能力。
特征
无与伦比的计量学
众所周知，Contourx-100 Profiler是超过40年的专有光学创新和行业领导地位，在非接触表面计量学，表征和成像中。
该系统利用3D WLI和2D成像技术在独立的采集中进行了多次分析。在所有表面情况下，Contourx-100均在0.05％至100％的反射率中强。
WLI为所有目标提供恒定而最终的垂直分辨率。图片来源：布鲁克·道尔顿学
无与伦比的价值和分析
随着成千上万的量身定制分析的可用性以及Bruker的简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，Contourx-100台面已提高了实验室和工厂地板的生产力。
硬件和软件倾向于集成，以简化地访问顶级高通量光学性能，从而完全卓越可比的计量技术。
Contourx-100手动阶段。图片来源：布鲁克·道尔顿学
申请
具有特定溶液的表面无关计量
精密工程
用户可以在严格的规范范围内将精确工程零件的表面纹理和几何尺寸保持。当用户倾向于监视，跟踪和计算流程并评估GD＆T符合度时，具有量规的测量系统提供了有效的反馈和报告。
图片来源：Bruker Daltonics
mem和传感器
用户可以执行高通量和高度可重复的蚀刻深度，膜厚度，步长和表面粗糙度测量值，以及MEMS和光学MEMS的复杂临界维度。
光学分析有可能表征从晶圆到最终测试甚至通过透明包装的整个制造过程中的设备。
图片来源：Bruker Daltonics
骨科/眼科
用户可以通过完整的产品生命周期实现对植入物材料和组件的准确测量。欧洲杯足球竞彩WLI光学剖道剂AID QA，R＆D和QC分析。
这可以用于应用程序，从透镜的表面参数和注射模具的表面参数到表面验证和医疗设备的磨损各不相同。2020欧洲杯下注官网
图片来源：Bruker Daltonics
摩擦学
用户有可能量化，分析和调节磨损，摩擦，润滑和腐蚀对材料或组件性能和寿命的影响。他们还可以识别定量磨损参数，并在光滑，闪亮或粗糙的表面上进行快速通过或进行快速通过检查。
图片来源：Bruker Daltonics
半导体
用户可以借助自动化，非接触，晶圆尺度的计量系统提高生产率并降低前端和后端制造过程的成本。
执行CMP后的固定性检查；共同性，凸起高度以及缺陷识别和分析；并量化组件结构的重要维度。
图片来源：Bruker Daltonics
光学
用户可以通过精确且可重复的Sub-NM粗糙度测量结果更好地了解缺陷的根本原因，并改善抛光和完成过程。
非接触式计量系统允许符合从小型和自由形式光学器件不等的样品的严格规格和ISO规范，到具有复杂几何形状的光学组件，再到衍射光栅和微粒。
图片来源：Bruker Daltonics