JEOL创造了一个特殊的新型wavelength-dispersive光谱仪(WDS),使用一个变量空间光栅捕捉非常低的能量射线(所谓的“软”x射线)高效、并行执行。
这些新的软x射线发射光谱仪(sx)具有较高的光谱分辨率(0.3 eV),使氮Kα和钛Lℓ线要解决只有1.78 eV分离,以及超低能量,低浓度的敏感性,使他们发现李甚至在低个位数的重量百分比浓度。
另一个,也许是最重要的特性是其做化学状态分析的能力。
电子产生x射线时,谱仪确定变化之间的导带和价带电子,使焊接和晶体结构样本中包含相同的元素。例如,区分高度有组织的热解石墨金刚石和非晶C,这都是由完全的碳。
一个新版本的软x射线发射光谱仪与添加了一个更广泛的能源范围JEOL (SXES-ER)。SXES-ER的光谱范围是100 eV ~ 2300 eV。使用L、M和N行,用户也不能只收集光元素但过渡金属和重元素。
的反作弊系统可用JEOL FE-SEMs和JEOL W /体制/ FEG电子探针系统。
李检测:在化合物峰的形状
检测到一个川崎汽船在金属。根据入住率的价带,一个额外的卫星峰可以在Li-compounds形式。
高能量分辨率光谱映射
第一次的反作弊系统允许直接观察Li-K排放。它还可以映射多个化学状态,出现不同程度的在李电池充电。
可以映射两个单独的Li-K发射谱线。较低的能量Li-K线的强度与电池的程度,而更高的能源Li-K线的强度对应于李metallically链接的数量。
快速并行检测
sx可以同时捕捉光谱在广阔范围由于新建畸变纠正光栅系统和高度敏感的x射线CCD。
化学状态分析
化学状态分析使用sx相当于,XPS和鳗鱼。原话的Fermi-edge排放的金属被用来证明sx的能量分辨率0.3 eV。
关键特性
sx
- 极端的光谱分辨率0.3 eV原话费米边
- 没有转动部件,从而导致高稳定性和重现性
- 综合分析系统的一部分,或作为一个独立的探测器
- 容易使用谱映射
- 杰出的光元素检测(适合李)
- 完美的光元素的化学状态分析——电池研究的必要条件
- 极好的灵敏度,几10 ppm B钢
- 能源范围50 eV - 210 eV(甚至是第二和第三行有一个高P / B比率和高分辨率)
SXES-ER
- 超高光谱分辨率(Zr-M z JS300N 1.2 eV的半最大值宽度/ Fe-LαJS200N 5.0 eV的半最大值宽度)
- 没有转动部件,从而导致高稳定性和重现性
- 综合分析系统的一部分,或作为一个独立的探测器
- 容易使用谱映射
- 杰出的光元素检测(1台球顺序)
- 允许检测一阶K线(n), L线(Ca - Mo)和M线(Cd - Bi)
- 微量元素是n -化学状态分析