JEM-F200“F2”多用途分析S / TEM感冒了场发射枪和双硅漂移探测器,使它唯一的高级分析,高吞吐量200千伏S / TEM在其类。“F2”是一个简单易用,非常稳定,高分辨率成像和分析200千伏TEM包含最新的JEOL进步。
F2是一个多功能的系统与复杂的功能,没有其他non-aberration纠正S / TEM可以匹配。
F2是高性能分析S / TEM由于增加探针电流从寒冷的FEG和双EDS探测器。下一代JEOL Cold-FEG提供高能精密电子能量损失谱(鳗鱼)快速检测化学结合国家由于其高亮度/狭窄的能量分散。
对于x射线分析,双硅漂移探测器(SDD)提供最高的灵敏度和吞吐量。De-Scan也使用在新的先进的扫描系统来完成广角STEM-EELs光谱成像。
F2配有四透镜冷凝器系统独立控制电子束强度(光斑大小)和收敛角。
F2也容易操作,与比以往更多的适应性和能力non-aberration S / TEM调整。在触摸一个按钮,可以选择100多束条件,和之前的设置可以简单地回忆道。ECO选项可以减少能源的使用量。
SpecPorter,独特的自动化样品持有人转运装置,使加载样品比以往任何时候都更容易。PicoStage执行准确、高速0.5 nm的样本运动步骤一旦加载,允许操作者顺利调整视野在大空间尺度范围从毫米到皮米。
关键特性
- 直观、高效的操作
- 先进的扫描系统
- SpecPorter样品持有人转让系统完全自动化
- 四透镜聚光系统
- 冷FEG比较窄的能量传播
- Pico阶段驱动超高速、高精度视场运动
- 双硅漂移探测器
JEOL JEM-F200多功能电子显微镜
视频来源:JEOL美国公司。