发现世界上第一个集成的分析4D-STEM TESCAN TENSOR

Tescan Tensor具有出色的4D STEM性能和无与伦比的可用性,是世界上第一个完全集成的分析4D STEM,从头开始设计,用于纳米级形态,化学和功能材料,薄膜和薄膜和薄膜和结构性的多模式分类欧洲杯足球竞彩合成颗粒。欧洲杯猜球平台

特征

  • 几乎实时分析和处理4D-STEM数据
  • STEM用户体验的新兴前景
  • 扫描与衍射成像,eds获取和光束抛光的同步
  • 电子束预动力和接近UHV增强性能

分析4D-STEM

电子束特性相互作用的完整图片

对于真正的纳米级,形态,化学和结构等材料特性的多模式表征,4D-STEM是首选显微镜技术。tescan张量快速,完美地使衍射图案的采集和在茎数据集中每个像素上的EDS频谱的采集。

衍射和光谱数据共同封装了整个电子束特性相互作用,可以从中得出广泛的材料特性。

接近实时分析和处理4D-STEM数据

探索 - 张量的集成平台,用于实时处理和大规模扫描电子衍射数据集的分析 - 是Tescan Tensor的独特功能。

不需要对STEM光学,4D型数据分析或后处理的专业知识,探索使材料科学家,半导体研究人员和晶体学家可以访问4D-STEM测量。

对于每个STEM或4D-STEM测量,高级用户都可以选择自定义预设优化的光学属性。

此外,想要创建自己的4D-STEM测量结果的高级用户可以使用hyperspy,Libertem或PY4DSTEM(例如使用虚拟STEM测量获得的4D STEM数据)的开源计算平台与它们兼容。

差异化的4D-STEM性能

扫描与(直接电子)衍射成像,EDS采集,电子束序列,梁毛坯以及所采集数据的实时分析和处理的超快和准确同步,支持Tescan Tensor的4D-STEM功能的性能。

通过将尖端的工具和方法“从头开始:”结合起来,这是可能的。

  • 进液电子衍射(PED)
  • 实时4D-STEM分析和处理(探索)
  • 混合像素,直接电子检测(DED)
  • 大的实体角度,对称,无窗的EDS
  • 样品区域内(近uhv)内的近插图高真空吸尘器
  • 快速,集成的光束遮挡

Tescan张量:像SEM一样易于使用的茎

在TEM发明很久以前,科学家,工程师,技术人员和学生就希望可以立即使用TEM解决方案,而无需几周或数月的电子光谱调整和对齐方式进行数周或数月的培训。

使用Tescan张量,用户可以在使用显微镜时与样品进行交互,而不是担心光学器件。这是通过将具有预设光学特性的“测量”付诸实践来实现的,例如梁电流,收敛角,点大小和打开或关闭的动力自动调整和对齐。

最终结果是一个分析的4D词干,与Tescan SEMS一样易于使用,并且具有结果驱动的电子显微镜的所有生产力和财务优势。

该策略还可以提供财务优势,例如改善经验的用户的工具可用性和更高的投资回报率。

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