LabRAM奥德赛纳米是一个完全集成的系统基于SmartSPM尖端扫描探针显微镜和LabRAM奥德赛喇曼micro-spectrometer完全自动化。
LabRAM奥德赛Nano提供完整的自动化,广泛的兼容性,和特殊性能。
LabRAM奥德赛纳米结合了易用性和极端最苛刻的应用程序的灵活性。与功能从深紫外到红外高光谱分辨率,和一组扩展的选项和配件,LabRAM奥德赛Nano是完全适合执行在任何一个研究领域。
特性
多试样分析平台
宏观、微观和纳米大小测量可以在相同的平台上进行。
易用性
完全自动化操作;在几分钟而不是几小时开始测量。
真正Confocality
高空间分辨率、自动映射阶段,和完整的显微镜可视化功能都是可用的。
收集效率高
自顶向下和斜拉曼检测提高分辨率和吞吐量在硝唑和Tip-Enhanced测量(拉曼及光致发光)。
高光谱分辨率
最优光谱分辨率性能,大量光栅自动切换、拉曼和PL光谱范围分析。
高空间分辨率
提示增强光学光谱(拉曼光致发光)提供纳米光谱分辨率(降至10海里)。
Multi-Technique /多
众多SPM模式可用,包括AFM、导电和电模式(cAFM KPFM), STM,液体电池和电化学环境,通过参数/ TEPL化学映射。
完全控制这两个仪器通过一个工作站和强大的软件控制,SPM和光谱仪可以同时或独立操作。
可靠性/稳定性
AFM扫描高谐振频率运行远离噪音。高性能是达到不需要主动隔振。
规范
SmartSPM扫描仪和基础
- 样品扫描范围:100µm×100µm×15µm (±10%)
- 由样品扫描类型:XY非线性0.05%;Z非线性0.05%
- 共振频率:XY: 7千赫(卸载);Z: 15千赫(卸载)
- 噪声:0.1 nm RMS在XY维度在200赫兹的带宽与电容传感器;0.02 nm RMS XY维度在100赫兹的带宽与电容传感器;< 0.04 nm RMS Z电容传感器在1000赫兹的带宽
- 样品定位:机动样本定位范围5×5毫米
- 样本大小:最大40×50毫米,厚度15毫米
- X, Y, Z运动:数字闭环控制X, Y, Z轴;机动Z方法范围18毫米
- 定位分辨率:1µm
AFM的头
- 激光波长:1300海里,互不干扰的光谱探测器
- 调整:完全自动化的悬臂和光电二极管调整
- 注册系统噪声:< 0.1海里
- 调查访问:不受限制的访问额外的外部操纵者和探针的探针
SPM测量模式
液体在空气中接触AFM /(可选);Semicontact AFM在空气/液体(可选);非接触式AFM;力调制;相位成像;横向力显微镜(lem);磁力显微镜(MFM);导电AFM(可选);开尔文探针(表面势显微镜,日行,KPFM);力曲线测量; Capacitance and Electric Force Microscopy (EFM); Nanolithography; Nanomanipulation; STM (optional); Piezo Response Force Microscopy (PFM); Photocurrent Mapping (optional); Volt-ampere characteristic measurements (optional).
光谱模式
- 共焦拉曼、荧光、光致发光成像和光谱
- Tip-EnhancedPhotoluminescence (TEPL)
- 近场光学扫描显微镜和光谱学(NSOM / SNOM)
- Tip-Enhanced拉曼光谱在AFM(参数),STM,剪切力模式
导电AFM单元(可选)
电流范围:100 fA÷10µA;3当前范围(100 nA nA,和10µA)可切换的软件
光学访问
能力同时使用顶部和侧计划高度消色透镜目标:100×,从顶部或侧面NA = 0.7;同时100 20××
压电扫描器与闭环超级稳定的长期目标光谱激光准直:范围20µmµm 20××15µm;分辨率:1海里
谱仪
完全自动化的高分辨率LabRAM奥德赛micro-spectrometer功能作为一个独立的台显微镜的能力。
- 波长范围:50厘米1到4000厘米1或下降到10厘米1超低频(ULF)过滤选项
- 光学设计:消色差摄谱仪和消色差光学耦合
- 光栅的光栅:选择150克/毫米到3600 g /毫米;两个光栅计算机控制炮塔,动安装,容易可交换的
- 自动化:这些全部都是机动操纵,软件控制操作
检测
全方位的CCD探测器,EMCCDs和红外探测器:InGaAs数组,单通道扩展InGaAs InSb集团。
激光源
- 典型的波长:532 nm 638 nm 785 nm
- 波长:全方位的波长从DUV (229 nm)红外(2.2µm)
- 完全自动化:自动化激光和过滤器切换三同步激光;激光偏振选择所有波长和光谱分析仪选项
软件
功能齐全的SPM、分光计、数据采集控制、光谱和SPM数据分析和处理套件,包括光谱拟合、反褶积、和过滤,可选模块包括单变量和多变量分析套件(HCA, PCA, MCR DCA),粒子探测和光谱搜索功能。