Nexview™NX2 3 d扫描干涉相干光学分析器

的NexviewNX2 3 d光学分析器,最苛刻的应用程序开发,集优秀的精密、先进算法,应用程序的灵活性和自动化成一个独特的方案,代表ZYGO最先进的连贯性扫描干涉(CSI)分析器。

完全非接触技术最大化投资回报率提供了事实上的放大和计量准确性更广泛的表面比其他类似的商用技术更快、更准确。

Nexview NX2真的是不妥协的分析器,应用,如平面度、粗糙度和波纹,薄膜,步高,几乎任何表面和材料。

NexviewNX2,当前一代旗舰,提供了一个广泛的差异化特性旨在让用户的计量更聪明,更快和更可靠的:

  • 1.9像素的传感器面积大,高度敏感性,允许用户查看更多在一个单一的测量。
  • 真彩色图像增强的可视化。
  • 为提高生产率和过程控制、高速测量只需几秒钟。
  • 计可以通过特殊性能要求最高的生产应用程序的精度和可重复性。
  • 自动化部分重点和设置最小化运营商可变性和培训,同时减少数据的时间。
  • SmartPSI跟表面的超快的技术分析。
  • SureScan技术和内置隔离,vibration-robust计量使高质量的计量甚至在播放环境。
  • 2 d和3 d的相关性为用户提供了信心,他们的测量结果符合ISO 25178和ISO 4287标准。
  • Mx仪器控制软件、分析和测量自动化。
  • 变量图像缩放和三个包括变焦镜头让用户优化的视野和仪器的灵活性最大化。

唯一的分析器需要

Nexview™NX2 3 d扫描干涉相干光学分析器

图片来源:Zygo公司

用户不再需要选择一个分析器取决于表面他们想要测量的类型。的NexviewNX2分析器测量几乎任何表面的地形,可以从hyper-polished光学表面与sub-Angstrom陡峭表面粗糙度加工角度85º。

它在3 d达到这一切,没有接触和所有之前的优势分析技术(共焦,手写笔,聚焦扫描)没有缺点。

客户需要这些功能可以购买额外的应用程序模块等特定需求测量的透明和2 d电影视觉分析。

自动操作

的NexviewNX2分析器是一个电子控制的工具,没有手动控制;因此它可以完全自动化编程序列量化不同区域的表面,各部分在一个托盘,或更大的表面通过缝合在一起的多个测量到一个单一的测量。

干净,流线型设计

的Nexview NX2分析器与条理清晰的看到一个宽敞的工作区域,使测量设置和改变的简单和快速。

自动化200毫米综合测量阶段是清洁、高效的工业设计。它有一个内置的±4º高负载与parcentric倾斜校正,使校准测量表面容易,甚至毫无特色的样本。

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