超高X光解析DR7NDT

CMOS X-Ray检测器DR7NDT达标,该检测器用于超高分辨率X-Ray检验

超高X光解析DR7NDT

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超高分辨率

19m像素生成极佳数据

时间图像

通过快速处理提高效率

压缩设计

可适配定位选择广可应用

最重要特征

超高X光解析DR7NDT

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DR7NDT完全适合小管子,因为它的紧凑形状也允许置入对象或难入区

CMOS X-Ray检测器有强铝外层和强碳层覆盖其36x26mm活性表层,以确保在高要求测试环境最优性能

PCUSB端口即时连接并增强X-Ray检测器内含4.5米电缆,可扩展至9m长度

技术数据

来源:DVERRNDTGHD&Ckg

DR7NDT
活动区 26x36mm
尺寸(HxWxD) 31.5x50x8.3毫米 1.24x1.97x0.33
数像素 1 368x1 896=2 593 728
像素投影 公元前19
SRb基础空间解析 25m
灰度解析 16位
接口 USB2.0,USB3.0兼容
电缆长度 4.5m(主动扩展可能性)
软件类 DRRNDTD图9.5或更高

样本图像

焊接多孔、NQ13毫米管、X射线和透视技术

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焊接 14毫米不锈钢管 X光 椭圆技术

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连接插件 X光评估电路连接

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