的获奖MATRIX-F是一种最新的傅里叶变换近红外光谱仪(FT-NIR)。MATRIX-F是所有FT-NIR需求的整体解决方案，从原材料鉴定到成品质量控制。内置和外部多路复用器选项允许监测多达48个反应与一个单一的仪器。除了粉末和球团外，还提供了广泛的探针适应性来确定乳剂和液体中的分析浓度。
突出的特性
FT-NIR光谱仪- MATRIX-F的显著特点是:
- 这是第一个可以直接承受恶劣环境的工业固化FT-NIR系统。
- 精密的光学已纳入仪器的卓越的稳定性和灵敏度，所有在一个紧凑的封装。
- 其新颖的设计提供了可靠的高质量的结果，最小的停机时间，直接的方法转移和新应用的可能性，较低的准确性和灵敏度仪器无法做到。
- 此外，同样的仪器可以在实验室和工厂环境中使用，当开发的技术准备用于工业规模时，就不需要新的仪器。
- MATRIX-F和它的外设是独立的封闭模块，设计很容易适应标准19”机架和外壳。由于模块可以作为独立的单元使用或安装在一个单独的外壳，过程控制系统可以完全定制。
- MATRIX-F保证了高一致性和易于维护。
- 单独的消耗品组件在预先对准的支架上，用户可以快速交换，而无需重新调整光学。
- 所有消耗品和电子产品都放置在单独的隔间里，因此可以在不干扰密封、干燥的光学区域的情况下进行交换。
- 在线诊断监控电子设备和其他消耗品的性能，如果有任何部件功能不正常，则通知用户。
- 通过使用Bruker光学仪器测试软件，结合内置的验证单元，通过点击一个按钮来验证仪器性能，确保整个系统的正常运行。
- 提供快速维修，确保制造过程不中断。
矩阵f | Bruker Optics | Demo
矩阵- F
MATRIX-F系统有以下几种选择:
- MATRIX-F。
FT-NIR光谱仪与光纤耦合，适应多达6个探头的固体和液体。
- MATRIX-F排放。
MATRIX-F光谱仪的特殊版本，适用于非接触式测量(Q-410/A和Q-412/A)的光纤耦合测量头。
- MATRIX-F双工。
扩展了MATRIX-F FT-NIR光谱仪，用于同时适配光纤探头和光纤耦合测量头。