扫描开尔文探头

Kelvin探针的理论首先由Kelvin勋爵在1861年促进.ELVIN探针技术是一种非破坏性的测试方法，它使用功函数来检测样品表面的差异，并可以检测吸附层，表面的差异电荷，表面污染物，涂层不连续等。它涉及使用振动电容探针并测量其与样品表面之间的电位差异。