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霍耳效应测量系统

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霍尔测量系统用于测定半导体的电阻率、载流子浓度和迁移率。利用该系统进行的测量可用于半导体和复合半导体的表征。

典型的霍尔效应测量系统包括一个精炼的高压气体,气体管道,过滤/干燥装置,热级,真空室,磁铁结构,真空泵,弹簧探头和计算机接口。

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