晶圆映射系统

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作为今天用于分析半导体制造过程中的数据的最流行的工具之一,晶片映射软件能够计算产量损失的原因,以及识别可能影响半导体器件产量的操作功能的效率。晶片映射或衬底映射是一种过程,其中通过产生颜色编码网格来可视化衬底表面上的半导体器件的性能。然后用于分析在颜色编码电网上表示的值来分析可以直接影响半导体晶片产量的任何可能的偏差原因,从而允许该诊断导致生产过程的改进。

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