Ambios技术Q-View SPM/干涉仪-功能

瑞克岁从中记录技术通过Q-View向我们展示。Q-View是将扫描探针(SPM)和干涉仪结合在一起的一种可互换的测量仪器。

Q-View使用隔离室,提供隔音和隔振。它还允许在较大的区域使用干涉测量表面粗糙度或在较小的区域使用SPM更高精度的测量。

来自Ambios技术的Q-View -功能和能力

运行时间:3:46min

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