KP技术公司的扫描开尔文探针-操作和能力

Iain D. Baikie教授来自KP技术介绍了扫描开尔文探头,它测量了振动尖端与样品之间的功函数差异。它适用于金属、电子设备、图形化晶片、太阳能电池等的分析,可以实现与AFM类似的功能。

扫描开尔文探针可用于腐蚀研究、聚合物薄膜和电子技术等材料分析。欧洲杯足球竞彩它能够探测到像分子那么薄的薄膜,并能创建样品表面的详细3-D地图。

这是一种简单易用的技术,测量速度非常快。

KP技术的扫描开尔文探针

运行时间- 3:40分钟

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