从PI直接测量位置

该视频显示了从中测量直接位置测量的动画Physik Instrumente.(PI),演示如何通过直接计量实现最大的精度。当使用非接触式传感器直接测量位置时,控制器相对于底座直接捕捉移动平台的每一个位置变化。

没有引导或驱动元件,这将影响测量点和移动平台之间的测量。该技术允许在千赫兹范围内的带宽,亚纳米范围的分辨率和卓越的稳定性。

运行时间 - 0:34min

纳米定位:为什么并行计量更好,由www.nanopositioning.net更好

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