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用TopMap表面计量的质量控制 - 用QC包控制您的过程

用TopMap表面计量的质量控制 - 用QC包控制您的过程

TopMap光学表面分析仪的QC封装为工业精密制造提供智能质量控制解决方案。测量3D的精密表面而无需接触并且可靠地确定平坦度，步进高度，波纹和粗糙度等表面参数。使用集成的条形码扫描仪加载测量设置，并通过预定义的测量配方轻松管理不同的样品类型。比较和同步全球标准化的测量设置。电动尖端倾斜单位确保始终具有面部地形地形测量的最佳视角。有关更多信息，请访问https://www.polytec.com/qc-package

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